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Sensor noise in LISA Pathfinder: Laser frequency noise and its coupling to the optical test mass readout / Armano, M.; Audley, H.; Baird, J.; Binetruy, P.; Born, M.; Bortoluzzi, D.; Brandt, N.; Castelli, E.; Cavalleri, A.; Cesarini, A.; Cruise, A. M.; Danzmann, K.; de Deus Silva, M.; Diepholz, I.; Dixon, G.; Dolesi, R.; Ferraioli, L.; Ferroni, V.; Fitzsimons, E. D.; Flatscher, R.; Freschi, M.; García, A.; Gerndt, R.; Gesa, L.; Giardini, D.; Gibert, F.; Giusteri, R.; Grimani, C.; Grzymisch, J.; Guzman, F.; Harrison, I.; Hartig, M. -S.; Hechenblaikner, G.; Heinzel, G.; Hewitson, M.; Hollington, D.; Hoyland, D.; Hueller, M.; Inchauspé, H.; Jennrich, O.; Jetzer, P.; Johann, U.; Johlander, B.; Karnesis, N.; Kaune, B.; Killow, C. J.; Korsakova, N.; Lobo, J. A.; López-Zaragoza, J. P.; Maarschalkerweerd, R.; Mance, D.; Martín, V.; Martin-Polo, L.; Martin-Porqueras, F.; Martino, J.; Mcnamara, P. W.; Mendes, J.; Mendes, L.; Meshksar, N.; Monsky, A.; Nofrarias, M.; Paczkowski, S.; Perreur-Lloyd, M.; Petiteau, A.; Plagnol, E.; Ramos-Castro, J.; Reiche, J.; Rivas, F.; Robertson, D. I.; Russano, G.; Sanjuan, J.; Slutsky, J.; Sopuerta, C. F.; Steier, F.; Sumner, T.; Texier, D.; Thorpe, J. I.; Vetrugno, D.; Vitale, S.; Wand, V.; Wanner, G.; Ward, H.; Wass, P. J.; Weber, W. J.; Wissel, L.; Wittchen, A.; Zweifel, P.. - In: PHYSICAL REVIEW D. - ISSN 2470-0010. - 109:4(2024). [10.1103/PhysRevD.109.042003]
Sensor noise in LISA Pathfinder: Laser frequency noise and its coupling to the optical test mass readout
Armano, M.;Audley, H.;Baird, J.;Binetruy, P.;Born, M.;Bortoluzzi, D.;Brandt, N.;Castelli, E.;Cavalleri, A.;Cesarini, A.;Cruise, A. M.;Danzmann, K.;de Deus Silva, M.;Diepholz, I.;Dixon, G.;Dolesi, R.;Ferraioli, L.;Ferroni, V.;Fitzsimons, E. D.;Flatscher, R.;Freschi, M.;García, A.;Gerndt, R.;Gesa, L.;Giardini, D.;Gibert, F.;Giusteri, R.;Grimani, C.;Grzymisch, J.;Guzman, F.;Harrison, I.;Hartig, M. -S.;Hechenblaikner, G.;Heinzel, G.;Hewitson, M.;Hollington, D.;Hoyland, D.;Hueller, M.;Inchauspé, H.;Jennrich, O.;Jetzer, P.;Johann, U.;Johlander, B.;Karnesis, N.;Kaune, B.;Killow, C. J.;Korsakova, N.;Lobo, J. A.;López-Zaragoza, J. P.;Maarschalkerweerd, R.;Mance, D.;Martín, V.;Martin-Polo, L.;Martin-Porqueras, F.;Martino, J.;McNamara, P. W.;Mendes, J.;Mendes, L.;Meshksar, N.;Monsky, A.;Nofrarias, M.;Paczkowski, S.;Perreur-Lloyd, M.;Petiteau, A.;Plagnol, E.;Ramos-Castro, J.;Reiche, J.;Rivas, F.;Robertson, D. I.;Russano, G.;Sanjuan, J.;Slutsky, J.;Sopuerta, C. F.;Steier, F.;Sumner, T.;Texier, D.;Thorpe, J. I.;Vetrugno, D.;Vitale, S.;Wand, V.;Wanner, G.;Ward, H.;Wass, P. J.;Weber, W. J.;Wissel, L.;Wittchen, A.;Zweifel, P.
Armano, M.; Audley, H.; Baird, J.; Binetruy, P.; Born, M.; Bortoluzzi, D.; Brandt, N.; Castelli, E.; Cavalleri, A.; Cesarini, A.; Cruise, A. M.; Danzmann, K.; de Deus Silva, M.; Diepholz, I.; Dixon, G.; Dolesi, R.; Ferraioli, L.; Ferroni, V.; Fitzsimons, E. D.; Flatscher, R.; Freschi, M.; García, A.; Gerndt, R.; Gesa, L.; Giardini, D.; Gibert, F.; Giusteri, R.; Grimani, C.; Grzymisch, J.; Guzman, F.; Harrison, I.; Hartig, M. -S.; Hechenblaikner, G.; Heinzel, G.; Hewitson, M.; Hollington, D.; Hoyland, D.; Hueller, M.; Inchauspé, H.; Jennrich, O.; Jetzer, P.; Johann, U.; Johlander, B.; Karnesis, N.; Kaune, B.; Killow, C. J.; Korsakova, N.; Lobo, J. A.; López-Zaragoza, J. P.; Maarschalkerweerd, R.; Mance, D.; Martín, V.; Martin-Polo, L.; Martin-Porqueras, F.; Martino, J.; Mcnamara, P. W.; Mendes, J.; Mendes, L.; Meshksar, N.; Monsky, A.; Nofrarias, M.; Paczkowski, S.; Perreur-Lloyd, M.; Petiteau, A.; Plagnol, E.; Ramos-Castro, J.; Reiche, J.; Rivas, F.; Robertson, D. I.; Russano, G.; Sanjuan, J.; Slutsky, J.; Sopuerta, C. F.; Steier, F.; Sumner, T.; Texier, D.; Thorpe, J. I.; Vetrugno, D.; Vitale, S.; Wand, V.; Wanner, G.; Ward, H.; Wass, P. J.; Weber, W. J.; Wissel, L.; Wittchen, A.; Zweifel, P.
Sensor noise in LISA Pathfinder: Laser frequency noise and its coupling to the optical test mass readout / Armano, M.; Audley, H.; Baird, J.; Binetruy, P.; Born, M.; Bortoluzzi, D.; Brandt, N.; Castelli, E.; Cavalleri, A.; Cesarini, A.; Cruise, A. M.; Danzmann, K.; de Deus Silva, M.; Diepholz, I.; Dixon, G.; Dolesi, R.; Ferraioli, L.; Ferroni, V.; Fitzsimons, E. D.; Flatscher, R.; Freschi, M.; García, A.; Gerndt, R.; Gesa, L.; Giardini, D.; Gibert, F.; Giusteri, R.; Grimani, C.; Grzymisch, J.; Guzman, F.; Harrison, I.; Hartig, M. -S.; Hechenblaikner, G.; Heinzel, G.; Hewitson, M.; Hollington, D.; Hoyland, D.; Hueller, M.; Inchauspé, H.; Jennrich, O.; Jetzer, P.; Johann, U.; Johlander, B.; Karnesis, N.; Kaune, B.; Killow, C. J.; Korsakova, N.; Lobo, J. A.; López-Zaragoza, J. P.; Maarschalkerweerd, R.; Mance, D.; Martín, V.; Martin-Polo, L.; Martin-Porqueras, F.; Martino, J.; Mcnamara, P. W.; Mendes, J.; Mendes, L.; Meshksar, N.; Monsky, A.; Nofrarias, M.; Paczkowski, S.; Perreur-Lloyd, M.; Petiteau, A.; Plagnol, E.; Ramos-Castro, J.; Reiche, J.; Rivas, F.; Robertson, D. I.; Russano, G.; Sanjuan, J.; Slutsky, J.; Sopuerta, C. F.; Steier, F.; Sumner, T.; Texier, D.; Thorpe, J. I.; Vetrugno, D.; Vitale, S.; Wand, V.; Wanner, G.; Ward, H.; Wass, P. J.; Weber, W. J.; Wissel, L.; Wittchen, A.; Zweifel, P.. - In: PHYSICAL REVIEW D. - ISSN 2470-0010. - 109:4(2024). [10.1103/PhysRevD.109.042003]
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
