Charge-Induced Force Noise on Free-Falling Test Masses: Results from LISA Pathfinder / Armano, M.; Audley, H.; Auger, G.; Baird, J. T.; Binetruy, P.; Born, M.; Bortoluzzi, Daniele; Brandt, N.; Bursi, A.; Caleno, M.; Cavalleri, A.; Cesarini, Andrea; Cruise, M.; Danzmann, K.; De Deus Silva, M.; Diepholz, I.; Dolesi, Rita; Dunbar, N.; Ferraioli, Luigi; Ferroni, Valerio; Fitzsimons, E. D.; Flatscher, R.; Freschi, M.; Gallegos, J.; García Marirrodriga, C.; Gerndt, R.; Gesa, L.; Gibert, Ferran; Giardini, D.; Giusteri, Roberta; Grimani, C.; Grzymisch, J.; Harrison, I.; Heinzel, G.; Hewitson, M.; Hollington, D.; Hueller, Mauro; Huesler, J.; Inchauspé, H.; Jennrich, O.; Jetzer, P.; Johlander, B.; Karnesis, N.; Kaune, B.; Killow, C. J.; Korsakova, N.; Lloro, I.; Liu, L.; López Zaragoza, J. P.; Maarschalkerweerd, R.; Madden, S.; Mance, D.; Martín, V.; Martin Polo, L.; Martino, J.; Martin Porqueras, F.; Mateos, I.; Mcnamara, P. W.; Mendes, J.; Mendes, L.; Moroni, A.; Nofrarias, M.; Paczkowski, S.; Perreur Lloyd, M.; Petiteau, A.; Pivato, Paolo; Plagnol, E.; Prat, P.; Ragnit, U.; Ramos Castro, J.; Reiche, J.; Romera Perez, J. A.; Robertson, D. I.; Rozemeijer, H.; Rivas, F.; Russano, Giuliana; Sarra, P.; Schleicher, A.; Slutsky, J.; Sopuerta, C.; Sumner, T. J.; Texier, D.; Thorpe, J. I.; Trenkel, C.; Vetrugno, Daniele; Vitale, Stefano; Wanner, G.; Ward, H.; Wass, Peter James; Wealthy, D.; Weber, William Joseph; Wittchen, A.; Zanoni, C.; Ziegler, T.; Zweifel, P.. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - ELETTRONICO. - 118:17(2017), p. 171101. [10.1103/PhysRevLett.118.171101]
Charge-Induced Force Noise on Free-Falling Test Masses: Results from LISA Pathfinder
Bortoluzzi, Daniele;Cesarini, Andrea;Dolesi, Rita;Ferraioli, Luigi;Ferroni, Valerio;Gibert, Ferran;Giusteri, Roberta;Hueller, Mauro;Pivato, Paolo;Russano, Giuliana;Vetrugno, Daniele;Vitale, Stefano;Wass, Peter James;Weber, William Joseph;
2017-01-01
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