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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
X-ray absorption study of ReO3 lattice dynamics
1995-01-01 Dalba, Giuseppe; Fornasini, Paolo; A., Kuzmin; J., Purans; F., Rocca
X-ray analysis of texture domains in nonhomogeneous thin films deposited by physical vapour deposition
2004-01-01 Scardi, Paolo; Leoni, Matteo; D'Incau, Mirco
X-ray and neutron scattering studies in vitreus silica: acoustic nature of vibrational dynamics in the mesoscopic range
2002-01-01 Pilla, Oreste; Caponi, Silvia; Fontana, Aldo; Montagna, Maurizio; L., Righetti; F., Rossi; Viliani, Gabriele; G., Ruocco; Monaco, Giulio; F., Sette; R., Verbeni; G., Cicognani; A. J., Dianoux
X-ray diffraction and Raman scattering measurements on silica xerogels
2002-01-01 Caponi, Silvia; Ferrari, Maurizio; Fontana, Aldo; C., Masciovecchio; A., Mermet; Montagna, Maurizio; F., Rossi; G., Ruocco; F., Sette
X-Ray Diffraction Characterization of Heavily DeformedMetallic Specimens
1998-01-01 Lutterotti, Luca; Gialanella, Stefano
X-ray Diffraction Line broadening effects in MBa2Cu3O7-d (M=Y, Gd) thin films
1997-01-01 Scardi, Paolo; F., Matacotta; V., Dediu; L., Correra
X-ray diffraction methodology for the microstructural analysis of nanocrystalline powders: application to cerium oxide
2004-01-01 Leoni, Matteo; Di Maggio, Rosa; S., Polizzi; Scardi, Paolo
X-ray diffraction peak profile analysis of TiNx films prepared on silicon by the reactive ion beam assisted deposition
1991-01-01 Scardi, Paolo; D., Kothari; L., Guzman
X-ray diffraction study of P-doped polycrystalline Si thin films used in ULSI devices
1992-01-01 D., Bisero; Dapor, Maurizio; B., Margesin
X-ray excited optical luminescence detection by scanning near-field optical microscope: A new tool for nanoscience
2008-01-01 S., Larcheri; F., Rocca; F., Jandard; D., Pailharey; Graziola, Roberto; A., Kuzmin; J., Purans
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Data di pubblicazione
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- 2020 - 2026 18340
- 2010 - 2019 23353
- 2000 - 2009 14106
- 1990 - 1999 6859
- 1980 - 1989 2765
- 1970 - 1979 629
- 1960 - 1969 145
- 1953 - 1959 6
Editore
- Elsevier BV:PO Box 211, 1000 AE A... 159
- American Institute of Physics:2 H... 115
- Elsevier Science Limited:Oxford F... 72
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- Giuffre Editore Spa:via Busto Ars... 34
- Academic Press Incorporated:6277 ... 33
- Cedam Spa:via Jappelli 5-6, I 351... 31
- Elsevier 30
Rivista
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- JOURNAL OF HIGH ENERGY PHYSICS 379
- PLOS ONE 339
- THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL. C,... 330
- PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIE... 298
- PHYSICAL REVIEW D 291
- PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MAT... 285
- NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN ... 270
Serie
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- Settore M-PSI/01 - Psicologia Gen... 32
- Settore ING-INF/05 - Sistemi di E... 27
- Settore M-PSI/02 - Psicobiologia ... 27
- Settore FIS/06 - Fisica per il Si... 22
- Settore SPS/07 - Sociologia Generale 21
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