X-ray diffraction and Raman scattering measurements on silica xerogels / Caponi, Silvia; Ferrari, Maurizio; Fontana, Aldo; C., Masciovecchio; A., Mermet; Montagna, Maurizio; F., Rossi; G., Ruocco; F., Sette. - In: JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS. - ISSN 0022-3093. - STAMPA. - 307-310:(2002), pp. 135-142.
Scheda prodotto non validato
I dati visualizzati non sono stati ancora sottoposti a validazione formale da parte dello Staff di IRIS, ma sono stati ugualmente trasmessi al Sito Docente Cineca (Loginmiur).
Titolo: | X-ray diffraction and Raman scattering measurements on silica xerogels | |
Autori: | Caponi, Silvia; Ferrari, Maurizio; Fontana, Aldo; C., Masciovecchio; A., Mermet; Montagna, Maurizio; F., Rossi; G., Ruocco; F., Sette | |
Autori Unitn: | ||
Titolo del periodico: | JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS | |
Anno di pubblicazione: | 2002 | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/27173 | |
Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione