Amorphous carbon film growth on Si: correlation between stress and generation of defects into the substrate
Brusa, Roberto Sennen;Mariazzi, Sebastiano;Karwasz, Grzegorz;Anderle, Mariano
2005-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione