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EnglishCombining Rietveld and reflectivity for thin film analysis / Lutterotti, Luca; L., Cont; A., Gibaud; D., Dekadjevi; C., Wiemer; J., Ricote. - In: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A, FOUNDATIONS OF CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 0108-7673. - ELETTRONICO. - A58:s1(2002), pp. C169-C169.
| Titolo: | Combining Rietveld and reflectivity for thin film analysis | |
| Autori: | Lutterotti, Luca; L., Cont; A., Gibaud; D., Dekadjevi; C., Wiemer; J., Ricote | |
| Autori Unitn: | ||
| Titolo del periodico: | ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A, FOUNDATIONS OF CRYSTALLOGRAPHY | |
| Anno di pubblicazione: | 2002 | |
| Numero e parte del fascicolo: | s1 | |
| Codice identificativo WOS: | WOS:000475976700669 | |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1107/S0108767302091808 | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/40474 | |
| Citazione: | Combining Rietveld and reflectivity for thin film analysis / Lutterotti, Luca; L., Cont; A., Gibaud; D., Dekadjevi; C., Wiemer; J., Ricote. - In: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A, FOUNDATIONS OF CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 0108-7673. - ELETTRONICO. - A58:s1(2002), pp. C169-C169. | |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| Luca_ActaCryst_A58_C169_2002.pdf | Versione editoriale (Publisher’s layout) | Tutti i diritti riservati (All rights reserved) | Open Access Visualizza/Apri |
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