Combining Rietveld and reflectivity for thin film analysis / Lutterotti, Luca; L., Cont; A., Gibaud; D., Dekadjevi; C., Wiemer; J., Ricote. - In: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A, FOUNDATIONS OF CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 0108-7673. - ELETTRONICO. - A58:s1(2002), pp. C169-C169. [10.1107/S0108767302091808]

Combining Rietveld and reflectivity for thin film analysis

Lutterotti, Luca;
2002

s1
Lutterotti, Luca; L., Cont; A., Gibaud; D., Dekadjevi; C., Wiemer; J., Ricote
Combining Rietveld and reflectivity for thin film analysis / Lutterotti, Luca; L., Cont; A., Gibaud; D., Dekadjevi; C., Wiemer; J., Ricote. - In: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A, FOUNDATIONS OF CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 0108-7673. - ELETTRONICO. - A58:s1(2002), pp. C169-C169. [10.1107/S0108767302091808]
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