IRIS

Radiation effects on breakdown characteristics of multiguarded devices

Paccagnella, Alessandro;Verzellesi, Giovanni;Dalla Betta, Gian Franco;Soncini, Giovanni;
1997-01-01
1997
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
3
M., Da Rold; Paccagnella, Alessandro; A., Da Re; Verzellesi, Giovanni; N., Bacchetta; R., Wheadon; Dalla Betta, Gian Franco; A., Candelori; Soncini, G...espandi
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