Paccagnella, Alessandro
Paccagnella, Alessandro
A new hardware/software platform and a new 1/E neutron source for soft error studies: Testing FPGAs at the ISIS facility
2007-01-01 Violante, M.; Sterpone, L.; Manuzzato, A.; Gerardin, S.; Rech, P.; Bagatin, M.; Paccagnella, A.; Andreani, C.; Gorini, G.; Pietropaolo, A.; Cardarilli, G.; Pontarelli, S.; Frost, C.
Asymmetrical oxide-charge build-up in irradiated p-MOSFET's
1995-01-01 Paccagnella, Alessandro; M., Ceschia; Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, Gian Franco; P., Fuochi; Zen, Mario; Soncini, Giovanni
Breakdown properties of multiguarded devices
1996-01-01 N., Bacchetta; D., Bisello; A., Candelori; Dalla Betta, Gian Franco; A., Dare; M., Da Rold; P., Fardin; Paccagnella, Alessandro; Soncini, Giovanni; Verzellesi, Giovanni; R., Wheadon
Durability Against Ca(OH)2 Attack of Soda-Lime Glass Coated by Various
1989-01-01 Carturan, Giovanni; Della Mea, Gianantonio; Paccagnella, Alessandro; Sorarù, Gian Domenico; C., Rizzo
Forward and reverse characteristics of irradiated MOSFET's
1996-01-01 Paccagnella, Alessandro; M., Ceschia; Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, Gian Franco; P., Bellutti; P., Fuochi; Soncini, Giovanni
High voltage operation of silicon devices for LHC experiments
1998-01-01 N., Bacchetta; D., Bisello; A., Candelori; M., Cavone; Dalla Betta, Gian Franco; M., Da Rold; G., De Liso; R., Dell'Orso; P., Fuochi; A., Messineo; O., Militaru; Paccagnella, Alessandro; G., Tonelli; P., Verdini; Verzellesi, Giovanni; R., Wheadon
Multiguard structures for high voltage operation of radiation damaged silicon detectors
1999-01-01 M., Da Rold; N., Bacchetta; Dalla Betta, Gian Franco; R., Dell'Orso; P., Fuochi; M., Manfredi; A., Messineo; O., Militaru; Paccagnella, Alessandro; Verzellesi, Giovanni; R., Wheadon
Nuclear physics midterm plan at Legnaro National Laboratories (LNL)
2023-01-01 Ballan, M.; Bottoni, S.; Caamaño, M.; Caciolli, A.; Campostrini, M.; Cicerchia, M.; Crespi, F. C. L.; Cristallo, S.; Dell'Aquila, D.; Depalo, R.; Fioretto, E.; Galtarossa, F.; Gasques, L. R.; Gottardo, A.; Gramegna, F.; Gulminelli, F.; Kurtukian-Nieto, T.; La Cognata, M.; Lenzi, S. M.; Marchi, T.; Mazurek, K.; Mengoni, D.; Mou, L.; Nania, R.; Pupillo, G.; Valiente-Dobón, J. J.; Zanon, I.; Acosta, L.; Alvarez, M. A. G.; Andrighetto, A.; Arazi, A.; Arzenton, A.; Assié, M.; Bagatin, M.; Barbaro, F.; Barbieri, C.; Barlini, S.; Basiricò, L.; Battistoni, G.; Beaumel, D.; Bentley, M. A.; Benzoni, G.; Bertoldo, S.; Bertulani, C.; Bonasera, A.; Camaiani, A.; Canton, L.; Capirossi, V.; Carante, M. P.; Carraro, C.; Carturan, S. M.; Casini, G.; Cavanna, F.; Centofante, L.; Chávez, E. R.; Chbihi, A.; Ciemała, M.; Cisternino, S.; Colombi, A.; Colucci, M.; Compagnucci, A.; Corradetti, S.; Corradi, L.; D'Agata, G.; de Angelis, G.; De Dominicis, L.; De Salvador, D.; Defilippo, E.; Del Fabbro, M.; Di Nitto, A.; Ditalia Tchernij, S.; Donzella, A.; Duguet, T.; Esposito, J.; Favela, F.; Fernández-García, J. P.; Flavigny, F.; Fontana, A.; Fornal, B.; Forneris, J.; Fraboni, B.; Frankland, J.; Gamba, E.; Geraci, E.; Gerardin, S.; Giuliani, S. A.; Gnoffo, B.; Groppi, F.; Gruyer, D.; Haddad, F.; Isaak, J.; Kmiecik, M.; Koning, A.; Lamia, L.; Le Neindre, N.; Leoni, S.; Lépine-Szily, A.; Lilli, G.; Lombardo, I.; Loriggiola, M.; Loriggiola, L.; Lunardon, M.; Maggioni, G.; Maj, A.; Manenti, S.; Manzolaro, M.; Marcucci, L. E.; Marín-Lámbarri, D. J.; Mariotti, E.; Martin Hernandez, G.; Massimi, C.; Mastinu, P.; Mazzocco, M.; Mazzolari, A.; Mijatović, T.; Mishenina, T.; Mizuyama, K.; Monetti, A.; Montagnoli, G.; Morselli, L.; Moschini, L.; Musacchio Gonzalez, E.; Nannini, A.; Niu, Y. F.; Ota, S.; Paccagnella, A.; Palmerini, S.; Pellegri, L.; Perego, A.; Piantelli, S.; Piatti, D.; Picollo, F.; Pignatari, M.; Pinna, F.; Pirrone, S.; Pizzone, R. G.; Polettini, M.; Politi, G.; Popescu, L.; Prete, G.; Quaranta, A.; Raabe, R.; Ramos, J. P.; Raniero, W.; Rapisarda, G. G.; Recchia, F.; Rigato, V.; Roca Maza, X.; Rocchini, M.; Rodriguez, T.; Roncolato, C.; Rudolph, D.; Russotto, P.; Sánchez-Benítez, Á. M.; Savran, D.; Scarpa, D.; Scheck, M.; Sekizawa, K.; Sergi, M. L.; Sgarbossa, F.; Silvestrin, L.; Singh Khwairakpam, O.; Skowronski, J.; Somà, V.; Spartà, R.; Spieker, M.; Stefanini, A. M.; Steiger, H.; Stevanato, L.; Stock, M. R.; Vardaci, E.; Verney, D.; Vescovi, D.; Vittone, E.; Werner, V.; Wheldon, C.; Wieland, O.; Wimmer, K.; Wyss, J.; Zago, L.; Zenoni, A.
Optimisation of multiguard structures for breakdown protection in silicon detectors
1998-01-01 N., Bacchetta; D., Bisello; M., Da Rold; F., Finotto; Paccagnella, Alessandro; Dalla Betta, Gian Franco; Verzellesi, Giovanni
Pd/Ge ohmic contacts for GaAs metal-semiconductor field effect transistors: technology and performance
1990-01-01 Paccagnella, Alessandro; L., Wang; C., Canali; G., Castellaneta; Dapor, Maurizio; G., Donzelli; E., Zanoni; S., Lau
Radiation effects on breakdown characteristics of multiguarded devices
1997-01-01 M., Da Rold; Paccagnella, Alessandro; A., Da Re; Verzellesi, Giovanni; N., Bacchetta; R., Wheadon; Dalla Betta, Gian Franco; A., Candelori; Soncini, Giovanni; D., Bisello
Self-limitation of edge-generated currents in single-sided microstrip detectors after type inversion
1999-01-01 Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, Gian Franco; M., Darold; Pignatel, Giorgio Umberto; Paccagnella, Alessandro; L., Bosisio
Study of breakdown effects in silicon multiguard structures
1999-01-01 M., Da Rold; N., Bacchetta; D., Bisello; Paccagnella, Alessandro; Dalla Betta, Gian Franco; Verzellesi, Giovanni; O., Militaru; R., Wheadon; P., Fuochi; C., Bozzi; R., Dell'Orso; A., Messineo; G., Tonelli; P., Verdini