Paccagnella, Alessandro
Paccagnella, Alessandro
A new hardware/software platform and a new 1/E neutron source for soft error studies: Testing FPGAs at the ISIS facility
2007-01-01 Violante, M.; Sterpone, L.; Manuzzato, A.; Gerardin, S.; Rech, P.; Bagatin, M.; Paccagnella, A.; Andreani, C.; Gorini, G.; Pietropaolo, A.; Cardarilli, G.; Pontarelli, S.; Frost, C.
Asymmetrical oxide-charge build-up in irradiated p-MOSFET's
1995-01-01 Paccagnella, Alessandro; M., Ceschia; Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, Gian Franco; P., Fuochi; Zen, Mario; Soncini, Giovanni
Breakdown properties of multiguarded devices
1996-01-01 N., Bacchetta; D., Bisello; A., Candelori; Dalla Betta, Gian Franco; A., Dare; M., Da Rold; P., Fardin; Paccagnella, Alessandro; Soncini, Giovanni; Verzellesi, Giovanni; R., Wheadon
Continuous subcutaneous insulin infusion in Italy: Third national survey
2015-01-01 Bruttomesso, D.; Laviola, L.; Lepore, G.; Bonfanti, R.; Bozzetto, L.; Corsi, A.; Di Blasi, V.; Girelli, A.; Grassi, G.; Iafusco, D.; Rabbone, I.; Schiaffini, R.; Montani, V.; Colleluori, P.; Paciotti, V.; Alfidi, P.; Grosso, J.; Tumini, S.; Cipriano, P.; Vitacolonna, E.; Di Vieste, G.; Minnucci, A.; Antenucci, D.; La Penna, G.; Taraborrelli, M.; Macerala, B.; Citro, G.; De Morelli, G.; Gnasso, A.; Irace, C.; Citriniti, F.; Lazzaro, N.; Bruzzese, M.; Mammi, F.; De Berardinis, F.; Santoro, E.; Corigliano, G.; Corigliano, M.; Parillo, M.; Schettino, M.; Di Blasi, V.; Fresa, R.; Annuzzi, G.; Bozzetto, L.; Bassi, V.; Santinelli, C.; Buono, P.; Mozzillo, E.; Corigliano, G.; De Feo, E.; Esposito, K.; Petrizzo, M.; Foglia, A.; Gatti, A.; Gentile, S.; Guarino, G.; Zanfardino, A.; Lambiase, C.; Vitale, A.; Zucchini, S.; Maltoni, G.; Forlani, G.; Moscatiello, S.; Suprani, T.; Bensa, M.; Tomasi, F.; Monesi, M.; Nizzoli, M.; Acquati, S.; Chierici, G.; Milli, B.; Iughetti, L.; Predieri, B.; Cavani, R.; Romano, S.; Manicardi, V.; Michelini, M.; Cimicchi, M. C.; Ugolotti, D.; Zavaroni, I.; Dei Cas, A.; Dall'Aglio, E.; Papi, M.; Tardio, S. M.; Calderini, M. C.; Riboni, S.; D'Amato, L.; Zavaroni, D.; Gastaldi, L.; Di Bartolo, P.; Pellicano, F.; Cirillo, A.; Graziani, V.; Di Secli, C.; Manicardi, V.; Amarri, S.; Lasagni, A.; Marsciani, A.; Pedini, A.; Pagliani, U.; Rossi, C.; Tortul, C.; Brunato, B.; Assaloni, R.; Zanette, G.; Livolsi, P.; Petrucco, A.; Tercelj, K.; Manca, E.; Candido, R.; Tommasi, E.; Tornese, G.; Faleschini, E.; Tonutti, L.; Agus, S.; Zanatta, M.; Rosolen, A.; Comici, A.; Graziano, F. M.; Misischi, I.; Pozzilli, P.; Maurizi, A. R.; Falasca, P.; Tuccinardi, F.; Ricciardi, G. P.; Di Masa, P.; Ragonese, M.; Cipolloni, L.; Buzzetti, R.; Moretti, C.; Leto, G.; Crino, A.; Bocchini, S.; Di Perna, P.; Giuliano, M.; Frontoni, S.; Malandrucco, I.; Pitocco, D.; Scalpone, R.; Toscanella, F.; Schiaffini, R.; Cappa, M.; Ventura, C.; Bonato, V.; De Bernardinis, M.; Cavallo, M. G.; Leonetti, F.; Morano, S.; Mandosi, E.; Cicconetti, E.; Ciampittiello, G.; Marini, M. A.; Sabato, D.; Napoli, A.; Giraudo, F.; Toscano, V.; Massimiani, F.; Fava, D.; Gargiulo, P.; Mecca, N.; Tubili, C.; Nardone, M. R.; Morviducci, L.; Manca-Bitti, M. L.; Arcano, S.; Leotta, S.; Suraci, C.; Chiaramonte, F.; Visalli, N.; Forte, E.; Palmacci, C.; Arnaldi, C.; Tosini, D.; Querci, F.; Lepore, G.; Trevisan, R.; Girelli, A.; Bonfadini, S.; Prandi, E.; Felappi, B.; Locatelli, F.; Fuso, V.; Rocca, A.; Meneghini, E.; Massafra, C.; Terni, T.; Elli, P.; Ruggeri, P.; Carrai, E.; Musacchio, N.; Lovagnini Scher, C. A.; Marelli, G.; Vilei, V.; Richini, D.; Inversini, C.; Franzetti, I.; Bonacina, M.; Ciucci, A.; Sciangula, L.; Duratorre, E.; Bonomo, M.; Bertuzzi, F.; Chebat, E.; Muratori, M.; Scaramuzza, A.; Zuccotti, G. V.; Bollati, P. M.; Colapinto, P.; Orsi, E.; Palmieri, E.; Laurenzi, A.; Molinari, C.; Frontino, G.; Veronelli, A.; Zecchini, B.; Bianchi, A.; Torchio, G.; Lovati, E.; Ghilardi, G.; Dagani, R.; Carugo, D.; Berra, C.; Favacchio, G.; Fochesato, E.; Pissarelli, A.; Bucciarelli, L.; Bulgheroni, M.; Guerraggio, L.; Zonca, S.; Bossi, A. C.; Berzi, D.; Mangone, I.; Cazzaniga, E.; Rabini, R. A.; Boemi, M.; Faloia, E.; Boscaro, M.; Sternari, G.; Iannilli, A.; Cherubini, V.; Busciantella Ricci, N.; Cartechini, M. G.; Tesei, A. M.; Maolo, G.; Galetta, M.; Vespasiani, G.; Tinti, G.; Manfrini, S.; Aiello, A.; Di Vincenzo, S.; Vitale, C.; Di Caro, P.; Lera, R.; Secco, A.; Lesina, A.; Romeo, F.; Origlia, C.; Giorda, C.; Chiambretti, A. M.; Fornengo, R.; De Donno, V.; Gallarotti, F.; Manti, R.; Marafetti, L.; Cadario, F.; Savastio, S.; Barbieri, P.; Massucco, P.; Ali, A.; Gottero, C.; Degiovanni, M.; Bertaina, S.; Maghenzani, G.; Rabbone, I.; Tinti, D.; Fontana, F.; Giorgino, F.; Stefanelli, G.; Cavallo, L.; Zecchino, C.; Piccinno, E.; Ortolani, F.; Gallo, F.; Moramarco, F.; Marino, A.; Sparasci, G.; Mileti, G.; Lamacchia, O.; Picca, G.; Coccioli, M. S.; Micale, F.; Serra, R.; Romano, I.; Savino, T.; De Cosmo, S.; Rauseo, A.; Delvecchio, M.; Lapolla, R.; Braione, A. F.; Papagno, G.; Baroni, M.; Melis, M.; Cossu, E.; Songini, M.; Cambuli, V. M.; Lo Presti, D.; Timpanaro, T. A.; Chiavetta, A.; Garofalo, M. R.; Tommaselli, L.; Tumminia, A.; Scarpitta, A. M.; Di Benedetto, A.; Giunta, L.; Lombardo, F.; Salzano, G.; Cardella, F.; Roppolo, R.; Provenzano, V.; Fleres, M.; Migliorini, S.; De Luca, A.; Leopardi, A.; Beltrami, C.; Toni, S.; Guasti, G.; Lenzi, L.; Lamanna, C.; Mannucci, E.; Lucchesi, S.; Dicianni, G.; Aragona, M.; Del Prato, S.; Fattor, B.; Eisath, J.; Pasquino, B.; Reinstadler, P.; Kaufmann, P.; Incelli, G.; Rauch, S.; Romanelli, T.; Cauvin, V.; Franceschi, R.; Soldani, C.; Scattoni, R.; Norgiolini, R.; Celleno, R.; Torlone, E.; Bolli, G. B.; Lalli, C.; Scarponi, M.; Bobbio, A.; Bechaz, M.; Pianta, A.; Marangoni, A.; Arico, C. N.; Alagona, C.; Confortin, L.; Rossi, E.; Boscolo Bariga, A.; Nogara, A.; Bettio, M.; Frison, V.; Guidoni, G. L.; Fongher, C.; Contin, M. L.; Cosma, A.; Vianello, S.; Bondesan, L.; Morea, A.; Volpi, A.; Coracina, A.; Panebianco, G.; Lombardi, S.; Costa, S.; Bruttomesso, D.; Cipponeri, E.; Vedovato, M.; Scotton, R.; Monciotti, C. M.; Galderisi, A.; Dalfra, M. G.; Lapolla, A.; Zanon, M.; Lisato, G.; Mollo, F.; Calcaterra, F.; Miola, M.; Paccagnella, A.; Sambataro, M.; Moro, E.; Trombetta, M.; Negri, C.; Sabbion, A.; Maffeis, C.; Strazzabosco, M.; Mesturino, C. A.; Mingardi, R.
Durability Against Ca(OH)2 Attack of Soda-Lime Glass Coated by Various
1989-01-01 Carturan, Giovanni; Della Mea, Gianantonio; Paccagnella, Alessandro; Sorarù, Gian Domenico; C., Rizzo
Forward and reverse characteristics of irradiated MOSFET's
1996-01-01 Paccagnella, Alessandro; M., Ceschia; Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, Gian Franco; P., Bellutti; P., Fuochi; Soncini, Giovanni
High voltage operation of silicon devices for LHC experiments
1998-01-01 N., Bacchetta; D., Bisello; A., Candelori; M., Cavone; Dalla Betta, Gian Franco; M., Da Rold; G., De Liso; R., Dell'Orso; P., Fuochi; A., Messineo; O., Militaru; Paccagnella, Alessandro; G., Tonelli; P., Verdini; Verzellesi, Giovanni; R., Wheadon
Multiguard structures for high voltage operation of radiation damaged silicon detectors
1999-01-01 M., Da Rold; N., Bacchetta; Dalla Betta, Gian Franco; R., Dell'Orso; P., Fuochi; M., Manfredi; A., Messineo; O., Militaru; Paccagnella, Alessandro; Verzellesi, Giovanni; R., Wheadon
Nuclear physics midterm plan at Legnaro National Laboratories (LNL)
2023-01-01 Ballan, M.; Bottoni, S.; Caamaño, M.; Caciolli, A.; Campostrini, M.; Cicerchia, M.; Crespi, F. C. L.; Cristallo, S.; Dell'Aquila, D.; Depalo, R.; Fioretto, E.; Galtarossa, F.; Gasques, L. R.; Gottardo, A.; Gramegna, F.; Gulminelli, F.; Kurtukian-Nieto, T.; La Cognata, M.; Lenzi, S. M.; Marchi, T.; Mazurek, K.; Mengoni, D.; Mou, L.; Nania, R.; Pupillo, G.; Valiente-Dobón, J. J.; Zanon, I.; Acosta, L.; Alvarez, M. A. G.; Andrighetto, A.; Arazi, A.; Arzenton, A.; Assié, M.; Bagatin, M.; Barbaro, F.; Barbieri, C.; Barlini, S.; Basiricò, L.; Battistoni, G.; Beaumel, D.; Bentley, M. A.; Benzoni, G.; Bertoldo, S.; Bertulani, C.; Bonasera, A.; Camaiani, A.; Canton, L.; Capirossi, V.; Carante, M. P.; Carraro, C.; Carturan, S. M.; Casini, G.; Cavanna, F.; Centofante, L.; Chávez, E. R.; Chbihi, A.; Ciemała, M.; Cisternino, S.; Colombi, A.; Colucci, M.; Compagnucci, A.; Corradetti, S.; Corradi, L.; D'Agata, G.; de Angelis, G.; De Dominicis, L.; De Salvador, D.; Defilippo, E.; Del Fabbro, M.; Di Nitto, A.; Ditalia Tchernij, S.; Donzella, A.; Duguet, T.; Esposito, J.; Favela, F.; Fernández-García, J. P.; Flavigny, F.; Fontana, A.; Fornal, B.; Forneris, J.; Fraboni, B.; Frankland, J.; Gamba, E.; Geraci, E.; Gerardin, S.; Giuliani, S. A.; Gnoffo, B.; Groppi, F.; Gruyer, D.; Haddad, F.; Isaak, J.; Kmiecik, M.; Koning, A.; Lamia, L.; Le Neindre, N.; Leoni, S.; Lépine-Szily, A.; Lilli, G.; Lombardo, I.; Loriggiola, M.; Loriggiola, L.; Lunardon, M.; Maggioni, G.; Maj, A.; Manenti, S.; Manzolaro, M.; Marcucci, L. E.; Marín-Lámbarri, D. J.; Mariotti, E.; Martin Hernandez, G.; Massimi, C.; Mastinu, P.; Mazzocco, M.; Mazzolari, A.; Mijatović, T.; Mishenina, T.; Mizuyama, K.; Monetti, A.; Montagnoli, G.; Morselli, L.; Moschini, L.; Musacchio Gonzalez, E.; Nannini, A.; Niu, Y. F.; Ota, S.; Paccagnella, A.; Palmerini, S.; Pellegri, L.; Perego, A.; Piantelli, S.; Piatti, D.; Picollo, F.; Pignatari, M.; Pinna, F.; Pirrone, S.; Pizzone, R. G.; Polettini, M.; Politi, G.; Popescu, L.; Prete, G.; Quaranta, A.; Raabe, R.; Ramos, J. P.; Raniero, W.; Rapisarda, G. G.; Recchia, F.; Rigato, V.; Roca Maza, X.; Rocchini, M.; Rodriguez, T.; Roncolato, C.; Rudolph, D.; Russotto, P.; Sánchez-Benítez, Á. M.; Savran, D.; Scarpa, D.; Scheck, M.; Sekizawa, K.; Sergi, M. L.; Sgarbossa, F.; Silvestrin, L.; Singh Khwairakpam, O.; Skowronski, J.; Somà, V.; Spartà, R.; Spieker, M.; Stefanini, A. M.; Steiger, H.; Stevanato, L.; Stock, M. R.; Vardaci, E.; Verney, D.; Vescovi, D.; Vittone, E.; Werner, V.; Wheldon, C.; Wieland, O.; Wimmer, K.; Wyss, J.; Zago, L.; Zenoni, A.
Optimisation of multiguard structures for breakdown protection in silicon detectors
1998-01-01 N., Bacchetta; D., Bisello; M., Da Rold; F., Finotto; Paccagnella, Alessandro; Dalla Betta, Gian Franco; Verzellesi, Giovanni
Pd/Ge ohmic contacts for GaAs metal-semiconductor field effect transistors: technology and performance
1990-01-01 Paccagnella, Alessandro; L., Wang; C., Canali; G., Castellaneta; Dapor, Maurizio; G., Donzelli; E., Zanoni; S., Lau
Radiation effects on breakdown characteristics of multiguarded devices
1997-01-01 M., Da Rold; Paccagnella, Alessandro; A., Da Re; Verzellesi, Giovanni; N., Bacchetta; R., Wheadon; Dalla Betta, Gian Franco; A., Candelori; Soncini, Giovanni; D., Bisello
Self-limitation of edge-generated currents in single-sided microstrip detectors after type inversion
1999-01-01 Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, Gian Franco; M., Darold; Pignatel, Giorgio Umberto; Paccagnella, Alessandro; L., Bosisio
Study of breakdown effects in silicon multiguard structures
1999-01-01 M., Da Rold; N., Bacchetta; D., Bisello; Paccagnella, Alessandro; Dalla Betta, Gian Franco; Verzellesi, Giovanni; O., Militaru; R., Wheadon; P., Fuochi; C., Bozzi; R., Dell'Orso; A., Messineo; G., Tonelli; P., Verdini