Paccagnella, Alessandro
Paccagnella, Alessandro
Asymmetrical oxide-charge build-up in irradiated p-MOSFET's
1995-01-01 Paccagnella, Alessandro; M., Ceschia; Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, Gian Franco; P., Fuochi; Zen, Mario; Soncini, Giovanni
Breakdown properties of multiguarded devices
1996-01-01 N., Bacchetta; D., Bisello; A., Candelori; Dalla Betta, Gian Franco; A., Dare; M., Da Rold; P., Fardin; Paccagnella, Alessandro; Soncini, Giovanni; Verzellesi, Giovanni; R., Wheadon
Durability Against Ca(OH)2 Attack of Soda-Lime Glass Coated by Various
1989-01-01 Carturan, Giovanni; Della Mea, Gianantonio; Paccagnella, Alessandro; Sorarù, Gian Domenico; C., Rizzo
Forward and reverse characteristics of irradiated MOSFET's
1996-01-01 Paccagnella, Alessandro; M., Ceschia; Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, Gian Franco; P., Bellutti; P., Fuochi; Soncini, Giovanni
High voltage operation of silicon devices for LHC experiments
1998-01-01 N., Bacchetta; D., Bisello; A., Candelori; M., Cavone; Dalla Betta, Gian Franco; M., Da Rold; G., De Liso; R., Dell'Orso; P., Fuochi; A., Messineo; O., Militaru; Paccagnella, Alessandro; G., Tonelli; P., Verdini; Verzellesi, Giovanni; R., Wheadon
Multiguard structures for high voltage operation of radiation damaged silicon detectors
1999-01-01 M., Da Rold; N., Bacchetta; Dalla Betta, Gian Franco; R., Dell'Orso; P., Fuochi; M., Manfredi; A., Messineo; O., Militaru; Paccagnella, Alessandro; Verzellesi, Giovanni; R., Wheadon
Optimisation of multiguard structures for breakdown protection in silicon detectors
1998-01-01 N., Bacchetta; D., Bisello; M., Da Rold; F., Finotto; Paccagnella, Alessandro; Dalla Betta, Gian Franco; Verzellesi, Giovanni
Pd/Ge ohmic contacts for GaAs metal-semiconductor field effect transistors: technology and performance
1990-01-01 Paccagnella, Alessandro; L., Wang; C., Canali; G., Castellaneta; Dapor, Maurizio; G., Donzelli; E., Zanoni; S., Lau
Radiation effects on breakdown characteristics of multiguarded devices
1997-01-01 M., Da Rold; Paccagnella, Alessandro; A., Da Re; Verzellesi, Giovanni; N., Bacchetta; R., Wheadon; Dalla Betta, Gian Franco; A., Candelori; Soncini, Giovanni; D., Bisello
Self-limitation of edge-generated currents in single-sided microstrip detectors after type inversion
1999-01-01 Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, Gian Franco; M., Darold; Pignatel, Giorgio Umberto; Paccagnella, Alessandro; L., Bosisio
Study of breakdown effects in silicon multiguard structures
1999-01-01 M., Da Rold; N., Bacchetta; D., Bisello; Paccagnella, Alessandro; Dalla Betta, Gian Franco; Verzellesi, Giovanni; O., Militaru; R., Wheadon; P., Fuochi; C., Bozzi; R., Dell'Orso; A., Messineo; G., Tonelli; P., Verdini