20 Years of Maud and the Rietveld Texture Analysis

Lutterotti, Luca; Matthies, Siegfried; Wenk, Hans - Rudolf

20 Years of Maud and the Rietveld Texture Analysis / Lutterotti, Luca; Siegfried, Matthies; Wenk, Hans - Rudolf. - (2017), pp. 52-52. (Intervento presentato al convegno ICOTOM18 tenutosi a St. George, Utah, USA nel 5-10/11/2017).

20 Years of Maud and the Rietveld Texture Analysis

Luca Lutterotti;Siegfried Matthies;Wenk, Hans - Rudolf

2017-01-01

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno di pubblicazione (Date of publication)
	
				2017
			
	Titolo del volume (Proceedings title)
	
				ICOTOM18 18th International Conference on Texture of Materials
			
	Luogo di edizione (Place of publication)
	
				St. George, Utah, USA
			
	Casa editrice (Publisher)
	
				Brigham Young University
			
	Citazione
	
				20 Years of Maud and the Rietveld Texture Analysis / Lutterotti, Luca; Siegfried, Matthies; Wenk, Hans - Rudolf. - (2017), pp. 52-52. (Intervento presentato al  convegno ICOTOM18 tenutosi a St. George, Utah, USA nel 5-10/11/2017).
			
	Tutti gli autori
	
						Lutterotti, Luca; Siegfried, Matthies; Wenk, Hans - Rudolf
					
	Appare nelle tipologie:
	
				04.2 Abstract in atti di convegno (Abstract in Proceedings)

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