A measurement of the cosmic ray positron fraction e+ / (e+ + e-) in the energy range of 1-30 GeV is presented. The measurement is based on data taken by the AMS-01 experiment during its 10 day Space Shuttle flight in June 1998. A proton background suppression on the order of 106 is reached by identifying converted bremsstrahlung photons emitted from positrons. © 2007 Elsevier B.V. All rights reserved.
Cosmic-ray positron fraction measurement from 1 to 30 GeV with AMS-01 / Aguilar, M.; Alcaraz, J.; Allaby, J.; Alpat, B.; Ambrosi, G.; Anderhub, H.; Ao, L.; Arefiev, A.; Azzarello, P.; Baldini, L.; Basile, M.; Barancourt, D.; Barao, F.; Barbier, G.; Barreira, G.; Battiston, R.; Becker, R.; Becker, U.; Bellagamba, L.; Bã©nã©, P.; Berdugo, J.; Berges, P.; Bertucci, B.; Biland, A.; Blasko, S.; Boella, G.; Boschini, M.; Bourquin, M.; Brocco, L.; Bruni, G.; Buã©nerd, M.; Burger, J. D.; Burger, W. J.; Cai, X. D.; Camps, C.; Cannarsa, P.; Capell, M.; Cardano, F.; Casadei, D.; Casaus, J.; Castellini, G.; Chang, Y. H.; Chen, H. F.; Chen, H. S.; Chen, Z. G.; Chernoplekov, N. A.; Chiueh, T. H.; Cho, K.; Choi, M. J.; Choi, Y. Y.; Cindolo, F.; Commichau, V.; Contin, A.; Cortina-Gil, E.; Cristinziani, M.; Dai, T. S.; Delgado, C.; Difalco, S.; Djambazov, L.; D'Antone, I.; Dong, Z. R.; Emonet, P.; Engelberg, J.; Eppling, F. J.; Eronen, T.; Esposito, G.; Extermann, P.; Favier, J.; Fiandrini, E.; Fisher, P. H.; Flã¼gge, G.; Fouque, N.; Galaktionov, Yu.; Gast, H.; Gervasi, M.; Giusti, P.; Grandi, D.; Grimm, O.; Gu, W. Q.; Hangarter, K.; Hasan, A.; Hermel, V.; Hofer, H.; Hungerford, W.; Jongmanns, M.; Karlamaa, K.; Karpinski, W.; Kenney, G.; Kim, D. H.; Kim, G. N.; Kim, K. S.; Kim, M. Y.; Klimentov, A.; Kossakowski, R.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Kraeber, M.; Laborie, G.; Laitinen, T.; Lamanna, G.; Lanciotti, E.; Laurenti, G.; Lebedev, A.; Lechanoine-Leluc, C.; Lee, M. W.; Lee, S. C.; Levi, G.; Liu, C. L.; Liu, H. T.; Lu, G.; Lu, Y. S.; Lã¼belsmeyer, K.; Luckey, D.; Lustermann, W.; Maã±a, C.; Margotti, A.; Mayet, F.; Mcneil, R. R.; Meillon, B.; Menichelli, M.; Mihul, A.; Mujunen, A.; Oliva, A.; Olzem, J.; Palmonari, F.; Park, H. B.; Park, W. H.; Pauluzzi, M.; Pauss, F.; Perrin, E.; Pesci, A.; Pevsner, A.; Pilo, F.; Pimenta, M.; Plyaskin, V.; Pojidaev, V.; Pohl, M.; Produit, N.; Rancoita, P. G.; Rapin, D.; Raupach, F.; Ren, D.; Ren, Z.; Ribordy, M.; Richeux, J. P.; Riihonen, E.; Ritakari, J.; Ro, S.; Roeser, U.; Rossin, C.; Sagdeev, R.; Santos, D.; Sartorelli, G.; Sbarra, C.; Schael, S.; Schultz von Dratzig, A.; Schwering, G.; Seo, E. S.; Shin, J. W.; Shoumilov, E.; Shoutko, V.; Siedenburg, T.; Siedling, R.; Son, D.; Song, T.; Spinella, F.; Steuer, M.; Sun, G. S.; Suter, H.; Tang, X. W.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S. M.; Tornikoski, M.; Torsti, J.; Trã¼mper, J.; Ulbricht, J.; Urpo, S.; Valtonen, E.; Vandenhirtz, J.; Velikhov, E.; Verlaat, B.; Vetlitsky, I.; Vezzu, F.; Vialle, J. P.; Viertel, G.; Vitã©, D.; Von Gunten, H.; Waldmeier Wicki, S.; Wallraff, W.; Wang, B. C.; Wang, J. Z.; Wiik, K.; Williams, C.; Wu, S. X.; Xia, P. C.; Xu, S.; Yan, J. L.; Yan, L. G.; Yang, C. G.; Yang, J.; Yang, M.; Ye, S. W.; Xu, Z. Z.; Zhang, H. Y.; Zhang, Z. P.; Zhao, D. X.; Zhou, Y.; Zhu, G. Y.; Zhu, W. Z.; Zhuang, H. L.; Zichichi, A.; Zimmermann, B.; Zuccon, P.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - ELETTRONICO. - 646:4(2007), pp. 145-154. [10.1016/j.physletb.2007.01.024]
Cosmic-ray positron fraction measurement from 1 to 30 GeV with AMS-01
Aguilar, M.; Alcaraz, J.; Allaby, J.; Alpat, B.; Ambrosi, G.; Anderhub, H.; Ao, L.; Arefiev, A.; Azzarello, P.; Baldini, L.; Basile, M.; Barancourt, D.; Barao, F.; Barbier, G.; Barreira, G.; Battiston, R. ;Becker, R.; Becker, U.; Bellagamba, L.; Béné, P.; Berdugo, J.; Berges, P.; Bertucci, B.; Biland, A.; Blasko, S.; Boella, G.; Boschini, M.; Bourquin, M.; Brocco, L.; Bruni, G.; Buénerd, M.; Burger, J. D.; Burger, W. J. ;Cai, X. D.; Camps, C.; Cannarsa, P.; Capell, M.; Cardano, F.; Casadei, D.; Casaus, J.; Castellini, G.; Chang, Y. H.; Chen, H. F.; Chen, H. S.; Chen, Z. G.; Chernoplekov, N. A.; Chiueh, T. H.; Cho, K.; Choi, M. J.; Choi, Y. Y.; Cindolo, F.; Commichau, V.; Contin, A.; Cortina-Gil, E.; Cristinziani, M.; Dai, T. S.; Delgado, C.; Difalco, S.; Djambazov, L.; D'Antone, I.; Dong, Z. R.; Emonet, P.; Engelberg, J.; Eppling, F. J.; Eronen, T.; Esposito, G.; Extermann, P.; Favier, J.; Fiandrini, E.; Fisher, P. H.; Flügge, G.; Fouque, N.; Galaktionov, Yu.; Gast, H.; Gervasi, M.; Giusti, P.; Grandi, D.; Grimm, O.; Gu, W. Q.; Hangarter, K.; Hasan, A.; Hermel, V.; Hofer, H.; Hungerford, W.; Jongmanns, M.; Karlamaa, K.; Karpinski, W.; Kenney, G.; Kim, D. H.; Kim, G. N.; Kim, K. S.; Kim, M. Y.; Klimentov, A.; Kossakowski, R.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Kraeber, M.; Laborie, G.; Laitinen, T.; Lamanna, G.; Lanciotti, E.; Laurenti, G.; Lebedev, A.; Lechanoine-Leluc, C.; Lee, M. W.; Lee, S. C.; Levi, G.; Liu, C. L.; Liu, H. T.; Lu, G.; Lu, Y. S.; Lübelsmeyer, K.; Luckey, D.; Lustermann, W.; Maña, C.; Margotti, A.; Mayet, F.; McNeil, R. R.; Meillon, B.; Menichelli, M.; Mihul, A.; Mujunen, A.; Oliva, A.; Olzem, J.; Palmonari, F.; Park, H. B.; Park, W. H.; Pauluzzi, M.; Pauss, F.; Perrin, E.; Pesci, A.; Pevsner, A.; Pilo, F.; Pimenta, M.; Plyaskin, V.; Pojidaev, V.; Pohl, M.; Produit, N.; Rancoita, P. G.; Rapin, D.; Raupach, F.; Ren, D.; Ren, Z.; Ribordy, M.; Richeux, J. P.; Riihonen, E.; Ritakari, J.; Ro, S.; Roeser, U.; Rossin, C.; Sagdeev, R.; Santos, D.; Sartorelli, G.; Sbarra, C.; Schael, S.; Schultz von Dratzig, A.; Schwering, G.; Seo, E. S.; Shin, J. W.; Shoumilov, E.; Shoutko, V.; Siedenburg, T.; Siedling, R.; Son, D.; Song, T.; Spinella, F.; Steuer, M.; Sun, G. S.; Suter, H.; Tang, X. W.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S. M.; Tornikoski, M.; Torsti, J.; Trümper, J.; Ulbricht, J.; Urpo, S.; Valtonen, E.; Vandenhirtz, J.; Velikhov, E.; Verlaat, B.; Vetlitsky, I.; Vezzu, F.; Vialle, J. P.; Viertel, G.; Vité, D.; Von Gunten, H.; Waldmeier Wicki, S.; Wallraff, W.; Wang, B. C.; Wang, J. Z.; Wiik, K.; Williams, C.; Wu, S. X.; Xia, P. C.; Xu, S.; Yan, J. L.; Yan, L. G.; Yang, C. G.; Yang, J.; Yang, M.; Ye, S. W.; Xu, Z. Z.; Zhang, H. Y.; Zhang, Z. P.; Zhao, D. X.; Zhou, Y.; Zhu, G. Y.; Zhu, W. Z.; Zhuang, H. L.; Zichichi, A.; Zimmermann, B.; Zuccon, P.
2007-01-01
Abstract
A measurement of the cosmic ray positron fraction e+ / (e+ + e-) in the energy range of 1-30 GeV is presented. The measurement is based on data taken by the AMS-01 experiment during its 10 day Space Shuttle flight in June 1998. A proton background suppression on the order of 106 is reached by identifying converted bremsstrahlung photons emitted from positrons. © 2007 Elsevier B.V. All rights reserved.
Citazione
Cosmic-ray positron fraction measurement from 1 to 30 GeV with AMS-01 / Aguilar, M.; Alcaraz, J.; Allaby, J.; Alpat, B.; Ambrosi, G.; Anderhub, H.; Ao, L.; Arefiev, A.; Azzarello, P.; Baldini, L.; Basile, M.; Barancourt, D.; Barao, F.; Barbier, G.; Barreira, G.; Battiston, R.; Becker, R.; Becker, U.; Bellagamba, L.; Bã©nã©, P.; Berdugo, J.; Berges, P.; Bertucci, B.; Biland, A.; Blasko, S.; Boella, G.; Boschini, M.; Bourquin, M.; Brocco, L.; Bruni, G.; Buã©nerd, M.; Burger, J. D.; Burger, W. J.; Cai, X. D.; Camps, C.; Cannarsa, P.; Capell, M.; Cardano, F.; Casadei, D.; Casaus, J.; Castellini, G.; Chang, Y. H.; Chen, H. F.; Chen, H. S.; Chen, Z. G.; Chernoplekov, N. A.; Chiueh, T. H.; Cho, K.; Choi, M. J.; Choi, Y. Y.; Cindolo, F.; Commichau, V.; Contin, A.; Cortina-Gil, E.; Cristinziani, M.; Dai, T. S.; Delgado, C.; Difalco, S.; Djambazov, L.; D'Antone, I.; Dong, Z. R.; Emonet, P.; Engelberg, J.; Eppling, F. J.; Eronen, T.; Esposito, G.; Extermann, P.; Favier, J.; Fiandrini, E.; Fisher, P. H.; Flã¼gge, G.; Fouque, N.; Galaktionov, Yu.; Gast, H.; Gervasi, M.; Giusti, P.; Grandi, D.; Grimm, O.; Gu, W. Q.; Hangarter, K.; Hasan, A.; Hermel, V.; Hofer, H.; Hungerford, W.; Jongmanns, M.; Karlamaa, K.; Karpinski, W.; Kenney, G.; Kim, D. H.; Kim, G. N.; Kim, K. S.; Kim, M. Y.; Klimentov, A.; Kossakowski, R.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Kraeber, M.; Laborie, G.; Laitinen, T.; Lamanna, G.; Lanciotti, E.; Laurenti, G.; Lebedev, A.; Lechanoine-Leluc, C.; Lee, M. W.; Lee, S. C.; Levi, G.; Liu, C. L.; Liu, H. T.; Lu, G.; Lu, Y. S.; Lã¼belsmeyer, K.; Luckey, D.; Lustermann, W.; Maã±a, C.; Margotti, A.; Mayet, F.; Mcneil, R. R.; Meillon, B.; Menichelli, M.; Mihul, A.; Mujunen, A.; Oliva, A.; Olzem, J.; Palmonari, F.; Park, H. B.; Park, W. H.; Pauluzzi, M.; Pauss, F.; Perrin, E.; Pesci, A.; Pevsner, A.; Pilo, F.; Pimenta, M.; Plyaskin, V.; Pojidaev, V.; Pohl, M.; Produit, N.; Rancoita, P. G.; Rapin, D.; Raupach, F.; Ren, D.; Ren, Z.; Ribordy, M.; Richeux, J. P.; Riihonen, E.; Ritakari, J.; Ro, S.; Roeser, U.; Rossin, C.; Sagdeev, R.; Santos, D.; Sartorelli, G.; Sbarra, C.; Schael, S.; Schultz von Dratzig, A.; Schwering, G.; Seo, E. S.; Shin, J. W.; Shoumilov, E.; Shoutko, V.; Siedenburg, T.; Siedling, R.; Son, D.; Song, T.; Spinella, F.; Steuer, M.; Sun, G. S.; Suter, H.; Tang, X. W.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S. M.; Tornikoski, M.; Torsti, J.; Trã¼mper, J.; Ulbricht, J.; Urpo, S.; Valtonen, E.; Vandenhirtz, J.; Velikhov, E.; Verlaat, B.; Vetlitsky, I.; Vezzu, F.; Vialle, J. P.; Viertel, G.; Vitã©, D.; Von Gunten, H.; Waldmeier Wicki, S.; Wallraff, W.; Wang, B. C.; Wang, J. Z.; Wiik, K.; Williams, C.; Wu, S. X.; Xia, P. C.; Xu, S.; Yan, J. L.; Yan, L. G.; Yang, C. G.; Yang, J.; Yang, M.; Ye, S. W.; Xu, Z. Z.; Zhang, H. Y.; Zhang, Z. P.; Zhao, D. X.; Zhou, Y.; Zhu, G. Y.; Zhu, W. Z.; Zhuang, H. L.; Zichichi, A.; Zimmermann, B.; Zuccon, P.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - ELETTRONICO. - 646:4(2007), pp. 145-154. [10.1016/j.physletb.2007.01.024]
File
Dimensione
Formato
2007_AMS01-positrons.pdf
Solo gestori archivio
Tipologia:
Versione editoriale (Publisher’s layout)
Licenza:
Tutti i diritti riservati (All rights reserved)
Dimensione
679.16 kB
Formato
Adobe PDF
679.16 kB
Adobe PDF
1-s2.0-S0370269307001104-main.pdf
accesso aperto
Tipologia:
Versione editoriale (Publisher’s layout)
Licenza:
Creative commons
Dimensione
743.35 kB
Formato
Adobe PDF
743.35 kB
Adobe PDF
Visualizza/Apri
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione
Sei sicuro che questo prodotto debba essere cancellato?
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione.
