IRIS

Characterization and Modeling of Breakdown Probability in Sub-Micrometer CMOS SPADs

Pancheri, Lucio;Stoppa, David;Dalla Betta, Gian Franco
2014-01-01
2014
IEEE JOURNAL OF SELECTED TOPICS IN QUANTUM ELECTRONICS
3802608
2-s2.0-84957921526
WOS:000357662000001
Pancheri, Lucio; Stoppa, David; Dalla Betta, Gian Franco
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