Update on scribe–cleave–passivate (SCP) slim edge technology for silicon sensors: Automated processing and radiation resistance

Dalla Betta, Gian Franco;BOSCARDIN, MAURIZIO;
2014-01-01

2014
V., Fadeyev; S., Ely; Z., Galloway; J., Ngo; C., Parker; H. F. W., Sadrozinski; M., Christophersen; B. F., Phlips; G., Pellegrini; J. M., Rafi; D., Qu...espandi
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