CINECA IRIS Institutional Research Information System
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EnglishA virtual X-ray powder diffraction experiment is conducted on a realistic computer-generated nano-polycrystalline microstructure. It is shown that the size and strain broadening contributions to the diffraction line profiles can be directly and reliably extracted from the atomistic model. It is also shown that current line profile analysis methods cannot fully interpret the observed patterns due to the peculiar microstructure of grain boundaries
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| Titolo: | Atomistic interpretation of microstrain in diffraction line profile analysis |
| Autori: | Leonardi, Alberto; Leoni, Matteo; Scardi, Paolo |
| Autori Unitn: | |
| Titolo del periodico: | THIN SOLID FILMS |
| Anno di pubblicazione: | 2013 |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-84874762125 |
| Codice identificativo ISI: | WOS:000316676500009 |
| Digital Object Identifier (DOI): | 10.1016/j.tsf.2012.05.037 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/96372 |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
File in questo prodotto:
http://hdl.handle.net/11572/96372
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