CINECA IRIS Institutional Research Information System
IRIS è l'Anagrafe della ricerca dell'Università degli Studi di Trento, e ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e diffondere, anche ad accesso aperto, la produzione scientifica degli autori afferenti all'Università degli Studi di Trento.
EnglishRole of Roughness Parameters on the Tribology of Randomly Nano-Textured Silicon Surface / E., Gualtieri; Pugno, Nicola; A., Rota; A., Spagni; Lepore, Emiliano; S., Valeri. - In: JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY. - ISSN 1533-4880. - 11:10(2011), pp. 9944-9950. [10.1166/jnn.2011.4296]
Scheda prodotto non validato
I dati visualizzati non sono stati ancora sottoposti a validazione formale da parte dello Staff di IRIS, ma sono stati ugualmente trasmessi al Sito Docente Cineca (Loginmiur).
| Titolo: | Role of Roughness Parameters on the Tribology of Randomly Nano-Textured Silicon Surface | |
| Autori: | E., Gualtieri; Pugno, Nicola; A., Rota; A., Spagni; Lepore, Emiliano; S., Valeri | |
| Autori Unitn: | ||
| Titolo del periodico: | JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY | |
| Anno di pubblicazione: | 2011 | |
| Numero e parte del fascicolo: | 10 | |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-84857179067 | |
| Codice identificativo Pubmed: | 22400331 | |
| Codice identificativo ISI: | WOS:000298363900127 | |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1166/jnn.2011.4296 | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/96018 | |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione
Copyright © 2021