CINECA IRIS Institutional Research Information System
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EnglishWe report measurements of angle-resolved light scattering in porous silicon films. Scattering rings were observed, and their aperture allowed to measure optical birefringence. These values are confirmed with other techniques. We study birefringence changes when pores are filled with liquids, after thermal annealing, and when the porous silicon layer is chemically etched in HF for different times. A decrease of optical anisotropy was observed in all cases.
| Titolo: | Scattering rings as a tool for birefringence measurements in porous silicon |
| Autori: | C. J., Oton; M., Ghulinyan; Gaburro, Zeno; Bettotti, Paolo; Pavesi, Lorenzo; Pancheri, Lucio; Gialanella, Stefano; N. E., Capuj |
| Autori Unitn: | |
| Titolo del periodico: | JOURNAL OF APPLIED PHYSICS |
| Anno di pubblicazione: | 2003 |
| Numero e parte del fascicolo: | 94.10 |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0344946326 |
| Codice identificativo ISI: | WOS:000186276600012 |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1063/1.1611632 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/93894 |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| 2003_Scattering_rings_JAP_94_6334_6340.PDF | Versione editoriale (Publisher’s layout) | Tutti i diritti riservati (All rights reserved) | Administrator |
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http://hdl.handle.net/11572/93894
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