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EnglishDevelopments and optical characterization of vertical tapers in SiON waveguides using gray-scale lithography / Han, Bing; E., Rigo; Guider, Romain; Larcheri, Silvia; G., Nunzi Conti; Vanacharla, Manga Rao; Chiasera, Alessandro; M., Ferrari; Pavesi, Lorenzo; G., Pucker; G. C., Righini; M., Ghulinyan. - STAMPA. - 8096(2011).
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| Titolo: | Developments and optical characterization of vertical tapers in SiON waveguides using gray-scale lithography |
| Autori: | Han, Bing; E., Rigo; Guider, Romain; Larcheri, Silvia; G., Nunzi Conti; Vanacharla, Manga Rao; Chiasera, Alessandro; M., Ferrari; Pavesi, Lorenzo; G., Pucker; G. C., Righini; M., Ghulinyan |
| Autori Unitn: | |
| Titolo del periodico: | PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING |
| Anno di pubblicazione: | 2011 |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-79960107287 |
| Codice identificativo ISI: | WOS:000297622200013 |
| Digital Object Identifier (DOI): | 10.1117/12.886820 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/93143 |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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http://hdl.handle.net/11572/93143
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