Electronic charge trapping effects in porous silicon

Pavesi, Lorenzo; Calliari, L.; Zanghellini, E.; Mariotto, Gino; Anderle, Mariano; Bisi, Olmes

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Electronic charge trapping effects in porous silicon / L. Pavesi; L. Calliari; E. Zanghellini; G. Mariotto; M. Anderle; O. Bisi. - STAMPA. - 1993(1993), pp. 61-67.

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Titolo:	Electronic charge trapping effects in porous silicon
Autori Unitn:	Pavesi, Lorenzo L. Calliari E. Zanghellini Mariotto, Gino Anderle, Mariano Bisi, Olmes mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Anno di pubblicazione:	1993
Titolo del periodico:	NATO ASI SERIES. SERIES F, COMPUTER AND SYSTEM SCIENCES
Handle:	http://hdl.handle.net/11572/92970
Appare nelle tipologie:	03.1 Articolo su rivista (Journal article)

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