CINECA IRIS Institutional Research Information System
IRIS è l'Anagrafe della ricerca dell'Università degli Studi di Trento, e ha lo scopo di raccogliere, documentare, diffondere e conservare le informazioni relative alla produzione scientifica degli autori afferenti all'Università degli Studi di Trento.
EnglishElectronic charge trapping effects in porous silicon / L. Pavesi; L. Calliari; E. Zanghellini; G. Mariotto; M. Anderle; O. Bisi. - In: NATO ASI SERIES. SERIES F, COMPUTER AND SYSTEM SCIENCES. - ISSN 0258-1248. - STAMPA. - 1993(1993), pp. 61-67.
Scheda prodotto non validato
I dati visualizzati non sono stati ancora sottoposti a validazione formale da parte dello Staff di IRIS, ma sono stati ugualmente trasmessi al Sito Docente Cineca (Loginmiur).
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11572/92970| Titolo: | Electronic charge trapping effects in porous silicon |
| Autori Unitn: | Pavesi, Lorenzo Mariotto, Gino Anderle, Mariano Bisi, Olmes |
| Anno di pubblicazione: | 1993 |
| Titolo del periodico: | NATO ASI SERIES. SERIES F, COMPUTER AND SYSTEM SCIENCES |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/92970 |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione
Copyright © 2017