Electronic charge trapping effects in porous silicon / Pavesi, Lorenzo; L., Calliari; E., Zanghellini; Mariotto, Gino; Anderle, Mariano; Bisi, Olmes. - STAMPA. - 1993:(1993), pp. 61-67.
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Titolo: | Electronic charge trapping effects in porous silicon | |
Autori: | Pavesi, Lorenzo; L., Calliari; E., Zanghellini; Mariotto, Gino; Anderle, Mariano; Bisi, Olmes | |
Autori Unitn: | ||
Titolo del periodico: | NATO ASI SERIES. SERIES F, COMPUTER AND SYSTEM SCIENCES | |
Anno di pubblicazione: | 1993 | |
Codice identificativo WOS: | WOS:A1993BZ23V00007 | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/92970 | |
Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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