Instrumental profile of MYTHEN detector in Debye-Scherrer geometry

Gozzo, F.; Cervellino, A.; Leoni, Matteo; Scardi, Paolo; Bergamaschi, A.; Schmitt, B.

doi:10.1524/zkri.2010.1345

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The main aberrations affecting data collected with 1D position sensitive detectors in Debye-Scherrer capillary geometry are examined, and analytical corrections proposed. The equations are implemented in two of the most advanced software based on the Rietveld and Whole Powder Pattern Modelling methods, respectively, for structure and microstructure analysis. Application to MYTHEN, a fast single photon counting detector developed at the Swiss Light Source, is discussed in detail.

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Titolo:	Instrumental profile of MYTHEN detector in Debye-Scherrer geometry
Autori Unitn:	F. Gozzo A. Cervellino Leoni, Matteo Scardi, Paolo A. Bergamaschi B. Schmitt mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Anno di pubblicazione:	2010
Titolo del periodico:	ZEITSCHRIFT FUR KRISTALLOGRAPHIE
Citazione:	Instrumental profile of MYTHEN detector in Debye-Scherrer geometry / F. Gozzo; A. Cervellino; M. Leoni; P. Scardi; A. Bergamaschi; B. Schmitt. - In: ZEITSCHRIFT FUR KRISTALLOGRAPHIE. - ISSN 0044-2968. - STAMPA. - 225:12(2010), pp. 616-624.
Abstract:	The main aberrations affecting data collected with 1D position sensitive detectors in Debye-Scherrer capillary geometry are examined, and analytical corrections proposed. The equations are implemented in two of the most advanced software based on the Rietveld and Whole Powder Pattern Modelling methods, respectively, for structure and microstructure analysis. Application to MYTHEN, a fast single photon counting detector developed at the Swiss Light Source, is discussed in detail.
Handle:	http://hdl.handle.net/11572/92959
Appare nelle tipologie:	03.1 Articolo su rivista (Journal article)

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