The main aberrations affecting data collected with 1D position sensitive detectors in Debye-Scherrer capillary geometry are examined, and analytical corrections proposed. The equations are implemented in two of the most advanced software based on the Rietveld and Whole Powder Pattern Modelling methods, respectively, for structure and microstructure analysis. Application to MYTHEN, a fast single photon counting detector developed at the Swiss Light Source, is discussed in detail.
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Titolo: | Instrumental profile of MYTHEN detector in Debye-Scherrer geometry | |
Autori: | F., Gozzo; A., Cervellino; Leoni, Matteo; Scardi, Paolo; A., Bergamaschi; B., Schmitt | |
Autori Unitn: | ||
Titolo del periodico: | ZEITSCHRIFT FUR KRISTALLOGRAPHIE | |
Anno di pubblicazione: | 2010 | |
Numero e parte del fascicolo: | 12 | |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-79951591637 | |
Codice identificativo WOS: | WOS:000286075900012 | |
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1524/zkri.2010.1345 | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/92959 | |
Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |