IRIS

Two-dimensional micro-Raman mapping of stress and strain distributions in strained silicon waveguides

Bianco, Federica;Cazzanelli, Massimo;Pavesi, Lorenzo
2012-01-01
2012
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY
2-s2.0-84863749339
WOS:000306331100012
Bianco, Federica; K., Fedus; F., Enrichi; R., Pierobon; Cazzanelli, Massimo; M., Ghulinyan; G., Pucker; Pavesi, Lorenzo
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/92460
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 24
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 23
  • OpenAlex ND
social impact