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EnglishTwo-dimensional micro-Raman mapping of stress and strain distributions in strained silicon waveguides / F. Bianco; K. Fedus; F. Enrichi; R. Pierobon; M. Cazzanelli; M. Ghulinyan; G. Pucker; L. Pavesi. - In: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0268-1242. - STAMPA. - 27(2012), p. 085009.
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http://hdl.handle.net/11572/92460| Titolo: | Two-dimensional micro-Raman mapping of stress and strain distributions in strained silicon waveguides |
| Autori Unitn: | Bianco, Federica Cazzanelli, Massimo Pavesi, Lorenzo |
| Anno di pubblicazione: | 2012 |
| Titolo del periodico: | SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/92460 |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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