Ion implantation in glasses produces structure modifications at depths greater than those of the implanted ion range. Such a result is evidenced by means of leaching experiments, alkali element depletion, distribution of gaseous implanted species, etching rate as function of depth. A systematic study with the aim to evidence a threshold in the nuclear deposited energy for defect diffusion is presented. Fourier transform infrared spectroscopy measurements confirm the glass modifications at extended depths.
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Titolo: | Defect diffusion in ion-implanted glasses |
Autori: | G. W., Arnold; G., Battaglin; A., Boscolo Boscoletto; F., Caccavale; G., De Marchi; P., Mazzoldi; Miotello, Antonio |
Autori Unitn: | |
Titolo del periodico: | NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION B, BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS |
Anno di pubblicazione: | 1992 |
Numero e parte del fascicolo: | n. 1-4 |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0041122606 |
Codice identificativo ISI: | WOS:A1992HN33200068 |
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1016/0168-583X(92)95072-Y |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/91776 |
Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |