Beam Test Measurements With 3D-DDTC Silicon Strip Detectors on n-Type Substrate

BOSCARDIN, MAURIZIO;Dalla Betta, Gian Franco;Ronchin, Sabina;Zoboli, Andrea;Zorzi, Nadia
2010-01-01

no. 5
M., Köhler; R., Bates; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; C., Fleta; J., Härkönen; S., Houston; K., Jakobs; S., Kühn; M., Lozano; P., Luukka; T., Mäenpää; H., Moilanen; C., Parkes; U., Parzefall; G., Pellegrini; D., Pennicard; Ronchin, Sabina; Zoboli, Andrea; Zorzi, Nadia
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