Beam Test Measurements With 3D-DDTC Silicon Strip Detectors on n-Type Substrate / M., Köhler; R., Bates; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; C., Fleta; J., Härkönen; S., Houston; K., Jakobs; S., Kühn; M., Lozano; P., Luukka; T., Mäenpää; H., Moilanen; C., Parkes; U., Parzefall; G., Pellegrini; D., Pennicard; Ronchin, Sabina; Zoboli, Andrea; Zorzi, Nadia. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - STAMPA. - vol. 57:no. 5(2010), pp. 2987-2994. [10.1109/TNS.2010.2058863]
Titolo: | Beam Test Measurements With 3D-DDTC Silicon Strip Detectors on n-Type Substrate | |
Autori: | M., Köhler; R., Bates; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; C., Fleta; J., Härkönen; S., Houston; K., Jakobs; S., Kühn; M., Lozano; P., Luukka; T., Mäenpää; H., Moilanen; C., Parkes; U., Parzefall; G., Pellegrini; D., Pennicard; Ronchin, Sabina; Zoboli, Andrea; Zorzi, Nadia | |
Autori Unitn: | ||
Titolo del periodico: | IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | |
Anno di pubblicazione: | 2010 | |
Numero e parte del fascicolo: | no. 5 | |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-79953797692 | |
Codice identificativo WOS: | WOS:000283440400024 | |
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2010.2058863 | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/84691 | |
Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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