Beam Test Measurements With 3D-DDTC Silicon Strip Detectors on n-Type Substrate

Köhler, M.; Bates, R.; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; Fleta, C.; Härkönen, J.; Houston, S.; Jakobs, K.; Kühn, S.; Lozano, M.; Luukka, P.; Mäenpää, T.; Moilanen, H.; Parkes, C.; Parzefall, U.; Pellegrini, G.; Pennicard, D.; Ronchin, Sabina; Zoboli, Andrea; Zorzi, Nadia

doi:10.1109/TNS.2010.2058863

Beam Test Measurements With 3D-DDTC Silicon Strip Detectors on n-Type Substrate

M. Köhler;R. Bates;BOSCARDIN, MAURIZIO;Dalla Betta, Gian Franco;C. Fleta;J. Härkönen;S. Houston;K. Jakobs;S. Kühn;M. Lozano;P. Luukka;T. Mäenpää;H. Moilanen;C. Parkes;U. Parzefall;G. Pellegrini;D. Pennicard;Ronchin, Sabina;Zoboli, Andrea;Zorzi, Nadia

2010-01-01

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Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno di pubblicazione (Date of publication)
	
				2010
			
	Titolo del periodico (Journal title)
	
				IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
			
	Numero e parte del fascicolo (Issue number and part)
	
				no. 5
			
	DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1109/TNS.2010.2058863
			
	Codice Scopus (Scopus identifier)
	
				2-s2.0-79953797692
			
	Codice WOS (WOS identifier)
	
				WOS:000283440400024
			
	Tutti gli autori
	
						M., Köhler; R., Bates; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; C., Fleta; J., Härkönen; S., Houston; K., Jakobs; S., Kühn; M., Lozano; P., Luuk...espandi
						
	Appare nelle tipologie:
	
				03.1 Articolo su rivista (Journal article)