Beam Test Measurements With 3D-DDTC Silicon Strip Detectors on n-Type Substrate

Köhler, M.; Bates, R.; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; Fleta, C.; Härkönen, J.; Houston, S.; Jakobs, K.; Kühn, S.; Lozano, M.; Luukka, P.; Mäenpää, T.; Moilanen, H.; Parkes, C.; Parzefall, U.; Pellegrini, G.; Pennicard, D.; Ronchin, Sabina; Zoboli, Andrea; Zorzi, Nadia

doi:10.1109/TNS.2010.2058863

Beam Test Measurements With 3D-DDTC Silicon Strip Detectors on n-Type Substrate / M., Köhler; R., Bates; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; C., Fleta; J., Härkönen; S., Houston; K., Jakobs; S., Kühn; M., Lozano; P., Luukka; T., Mäenpää; H., Moilanen; C., Parkes; U., Parzefall; G., Pellegrini; D., Pennicard; Ronchin, Sabina; Zoboli, Andrea; Zorzi, Nadia. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - STAMPA. - vol. 57:no. 5(2010), pp. 2987-2994. [10.1109/TNS.2010.2058863]

Titolo:	Beam Test Measurements With 3D-DDTC Silicon Strip Detectors on n-Type Substrate
Autori:	M., Köhler; R., Bates; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; C., Fleta; J., Härkönen; S., Houston; K., Jakobs; S., Kühn; M., Lozano; P., Luukka; T., Mäenpää; H., Moilanen; C., Parkes; U., Parzefall; G., Pellegrini; D., Pennicard; Ronchin, Sabina; Zoboli, Andrea; Zorzi, Nadia
Autori Unitn:	M. Köhler R. Bates BOSCARDIN, MAURIZIO Dalla Betta, Gian Franco C. Fleta J. Härkönen S. Houston K. Jakobs S. Kühn M. Lozano P. Luukka T. Mäenpää H. Moilanen C. Parkes U. Parzefall G. Pellegrini D. Pennicard Ronchin, Sabina Zoboli, Andrea Zorzi, Nadia mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Titolo del periodico:	IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
Anno di pubblicazione:	2010
Numero e parte del fascicolo:	no. 5
Codice identificativo Scopus:	2-s2.0-79953797692
Codice identificativo WOS:	WOS:000283440400024
Digital Object Identifier (DOI):	http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2010.2058863
Handle:	http://hdl.handle.net/11572/84691
Appare nelle tipologie:	03.1 Articolo su rivista (Journal article)

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