Beam-test results of 4k pixel CMOS MAPS and high resistivity striplet detectors equipped with digital sparsified readout in the Slim5 low mass silicon demonstrator

Villa, M.; Bruschi, M.; Di Sipio, R.; Fabbri, L.; Giacobbe, B.; Gabrielli, A.; Giorgi, F.; Pellegrini, G.; Sbarra, C.; Semprini, N.; Spighi, R.; Valentinetti, S.; Zoccoli, A.; Avanzini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Ceccanti, M.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Crescioli, F.; Dell’Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Gregucci, S.; Mammini, P.; Marchiori, G.; Massa, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Piendibene, M.; Profeti, A.; Sartori, L.; Walsh, J.; Yurtsev, E.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Citterio, M.; Liberali, V.; Palombo, F.; Andreoli, C.; Gaioni, L.; Pozzati, E.; Ratti, L.; Speziali, V.; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Dalla Betta, Gian Franco; Soncini, Giovanni; Fontana, Giorgio; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cristaudo, P.; Giacomini, G.; Jugovaz, D.; Lanceri, L.; Rashevskaya, I.; Vitale, L.; Venier, G.

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Beam-test results of 4k pixel CMOS MAPS and high resistivity striplet detectors equipped with digital sparsified readout in the Slim5 low mass silicon demonstrator / M. Villa; M. Bruschi; R. Di Sipio; L. Fabbri; B. Giacobbe; A. Gabrielli; F. Giorgi; G. Pellegrini; C. Sbarra; N. Semprini; R. Spighi; S. Valentinetti; A. Zoccoli; ; C. Avanzini; G. Batignani; S. Bettarini; F. Bosi; G. Calderini; M. Ceccanti; R. Cenci; A. Cervelli; F. Crescioli; M. Dell’Orso; F. Forti; P. Giannetti; M.A. Giorgi; A. Lusiani; S. Gregucci; P. Mammini; G. Marchiori; M. Massa; F. Morsani; N. Neri; E. Paoloni; M. Piendibene; A. Profeti; L. Sartori; J. Walsh; E. Yurtsev; M. Manghisoni; V. Re; G. Traversi; M. Citterio; V. Liberali; F. Palombo; C. Andreoli; L. Gaioni; E. Pozzati; L. Ratti; V. Speziali; D. Gamba; G. Giraudo; P. Mereu; G.F. Dalla Betta; G. Soncini; G. Fontana; M. Bomben; L. Bosisio; P. Cristaudo; G. Giacomini; D. Jugovaz; L. Lanceri; I. Rashevskaya; L. Vitale; G. Venier. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - STAMPA. - 617(2010), pp. 596-600.

Titolo:	Beam-test results of 4k pixel CMOS MAPS and high resistivity striplet detectors equipped with digital sparsified readout in the Slim5 low mass silicon demonstrator
Autori Unitn:	M. Villa M. Bruschi R. Di Sipio L. Fabbri B. Giacobbe A. Gabrielli F. Giorgi G. Pellegrini C. Sbarra N. Semprini R. Spighi S. Valentinetti A. Zoccoli C. Avanzini G. Batignani S. Bettarini F. Bosi G. Calderini M. Ceccanti R. Cenci A. Cervelli F. Crescioli M. Dell’Orso F. Forti P. Giannetti M. A. Giorgi A. Lusiani S. Gregucci P. Mammini G. Marchiori M. Massa F. Morsani N. Neri E. Paoloni M. Piendibene A. Profeti L. Sartori J. Walsh E. Yurtsev M. Manghisoni V. Re G. Traversi M. Citterio V. Liberali F. Palombo C. Andreoli L. Gaioni E. Pozzati L. Ratti V. Speziali D. Gamba G. Giraudo P. Mereu Dalla Betta, Gian Franco Soncini, Giovanni Fontana, Giorgio M. Bomben L. Bosisio P. Cristaudo G. Giacomini D. Jugovaz L. Lanceri I. Rashevskaya L. Vitale G. Venier mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Anno di pubblicazione:	2010
Titolo del periodico:	NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
Handle:	http://hdl.handle.net/11572/84513
Appare nelle tipologie:	03.1 Articolo su rivista (Journal article)

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