Beam-test results of 4k pixel CMOS MAPS and high resistivity striplet detectors equipped with digital sparsified readout in the Slim5 low mass silicon demonstrator

Dalla Betta, Gian Franco;Soncini, Giovanni;Fontana, Giorgio;
2010-01-01

2010
M., Villa; M., Bruschi; R., Di Sipio; L., Fabbri; B., Giacobbe; A., Gabrielli; F., Giorgi; G., Pellegrini; C., Sbarra; N., Semprini; R., Spighi; S., V...espandi
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