Beam-test results of 4k pixel CMOS MAPS and high resistivity striplet detectors equipped with digital sparsified readout in the Slim5 low mass silicon demonstrator

M. Villa;M. Bruschi;R. Di Sipio;L. Fabbri;B. Giacobbe;A. Gabrielli;F. Giorgi;G. Pellegrini;C. Sbarra;N. Semprini;R. Spighi;S. Valentinetti;A. Zoccoli;C. Avanzini;G. Batignani;S. Bettarini;F. Bosi;G. Calderini;M. Ceccanti;R. Cenci;A. Cervelli;F. Crescioli;M. Dell’Orso;F. Forti;P. Giannetti;M. A. Giorgi;A. Lusiani;S. Gregucci;P. Mammini;G. Marchiori;M. Massa;F. Morsani;N. Neri;E. Paoloni;M. Piendibene;A. Profeti;L. Sartori;J. Walsh;E. Yurtsev;M. Manghisoni;V. Re;G. Traversi;M. Citterio;V. Liberali;F. Palombo;C. Andreoli;L. Gaioni;E. Pozzati;L. Ratti;V. Speziali;D. Gamba;G. Giraudo;P. Mereu;Dalla Betta, Gian Franco;Soncini, Giovanni;Fontana, Giorgio;M. Bomben;L. Bosisio;P. Cristaudo;G. Giacomini;D. Jugovaz;L. Lanceri;I. Rashevskaya;L. Vitale;G. Venier

2010-01-01