IRIS

Study of defects in implanted silica glass by depth-profiling Positron Annihilation Spectroscopy

Brusa, Roberto Sennen;Mariazzi, Sebastiano;
2010-01-01
2010
Brusa, Roberto Sennen; Mariazzi, Sebastiano; L., Ravelli; P., Mazzoldi; G., Mattei; W., Egger; C., Hugenschmidt; B., Lowe; P., Pikart; C., Macchi; A.,...espandi
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