Seeman-Bohlin x-ray diffraction study of Al-1%Si thin films used in ULSI devices

Dapor, Maurizio;
1992-01-01

1992
Dapor, Maurizio; G., Cicolini; F., Giacomozzi; M., Boscardin; G., Queirolo
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/83916
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
  • OpenAlex ND
social impact