Auger electron spectroscopy and x-ray diffraction studies of Ti-Si layers synthesised by ion implantation

Dapor, Maurizio;
1990-01-01

1990
S., Vidwans; A., Narsale; V., Salvi; A., Rangwala; L., Guzman; F., Marchetti; Dapor, Maurizio; L., Calliari
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/83897
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact