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EnglishAuger electron spectroscopy and x-ray diffraction studies of Ti-Si layers synthesised by ion implantation / S., Vidwans; A., Narsale; V., Salvi; A., Rangwala; L., Guzman; F., Marchetti; Dapor, Maurizio; L., Calliari. - In: RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS. - ISSN 1042-0150. - STAMPA. - 114(1990), pp. 93-97.
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| Titolo: | Auger electron spectroscopy and x-ray diffraction studies of Ti-Si layers synthesised by ion implantation |
| Autori: | S., Vidwans; A., Narsale; V., Salvi; A., Rangwala; L., Guzman; F., Marchetti; Dapor, Maurizio; L., Calliari |
| Autori Unitn: | |
| Titolo del periodico: | RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS |
| Anno di pubblicazione: | 1990 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/83897 |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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