Auger electron spectroscopy and x-ray diffraction studies of Ti-Si layers synthesised by ion implantation

Dapor, Maurizio;
1990-01-01

1990
S., Vidwans; A., Narsale; V., Salvi; A., Rangwala; L., Guzman; F., Marchetti; Dapor, Maurizio; L., Calliari
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