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EnglishExperimental and Theoretical Joint Study on the Electronic and Structural Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in SiO2: active Role of the Interface Region / Daldosso, Nicola; M., Luppi; Dalba, Giuseppe; Pavesi, Lorenzo; F., Rocca; F., Priolo; G., Franzò; F., Iacona; E., Degoli; R., Magri; S., Ossicini. - In: MATERIALS RESEARCH SOCIETY SYMPOSIA PROCEEDINGS. - ISSN 0272-9172. - STAMPA. - 770(2003), pp. I6.1.1.-6-I6.1.1.-6.
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| Titolo: | Experimental and Theoretical Joint Study on the Electronic and Structural Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in SiO2: active Role of the Interface Region |
| Autori: | Daldosso, Nicola; M., Luppi; Dalba, Giuseppe; Pavesi, Lorenzo; F., Rocca; F., Priolo; G., Franzò; F., Iacona; E., Degoli; R., Magri; S., Ossicini |
| Autori Unitn: | |
| Titolo del periodico: | MATERIALS RESEARCH SOCIETY SYMPOSIA PROCEEDINGS |
| Anno di pubblicazione: | 2003 |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-12144291404 |
| Codice identificativo ISI: | WOS:000187669900013 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/83585 |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
File in questo prodotto:
http://hdl.handle.net/11572/83585
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