Spectroscopy of silica layers containing Si nanocrystals: Experimental evidence of optical birefringence / L., Khriachtchev; Navarro Urrios, Daniel; Pavesi, Lorenzo; C. J., Oton; N. E., Capuj; S., Novikov. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - Vol. 101:no. 4(2007), pp. 044310-044310-6.
Titolo: | Spectroscopy of silica layers containing Si nanocrystals: Experimental evidence of optical birefringence |
Autori: | L., Khriachtchev; Navarro Urrios, Daniel; Pavesi, Lorenzo; C. J., Oton; N. E., Capuj; S., Novikov |
Autori Unitn: | |
Titolo del periodico: | JOURNAL OF APPLIED PHYSICS |
Anno di pubblicazione: | 2007 |
Numero e parte del fascicolo: | no. 4 |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-33847657476 |
Codice identificativo ISI: | WOS:000244530800070 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/83090 |
Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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