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EnglishSpectroscopy of silica layers containing Si nanocrystals: Experimental evidence of optical birefringence / L., Khriachtchev; Navarro Urrios, Daniel; Pavesi, Lorenzo; C. J., Oton; N. E., Capuj; S., Novikov. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - Vol. 101:no. 4(2007), pp. 044310-044310-6.
| Titolo: | Spectroscopy of silica layers containing Si nanocrystals: Experimental evidence of optical birefringence | |
| Autori: | L., Khriachtchev; Navarro Urrios, Daniel; Pavesi, Lorenzo; C. J., Oton; N. E., Capuj; S., Novikov | |
| Autori Unitn: | ||
| Titolo del periodico: | JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | |
| Anno di pubblicazione: | 2007 | |
| Numero e parte del fascicolo: | no. 4 | |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-33847657476 | |
| Codice identificativo ISI: | WOS:000244530800070 | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/83090 | |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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http://hdl.handle.net/11572/83090
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