IRIS

Light emission properties and mechanism of low-temperature prepared amorphous SiNx films. II: Defect states electroluminescence

Yuan, Zhizhong;Anopchenko, Oleksiy;L. Pavesi
2008-01-01
2008
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
WOS:000260572100022
Wang, M.; Yuan, Zhizhong; Anopchenko, Oleksiy; Li, D.; Yang, D.; Pavesi, L.
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