Light emission properties and mechanism of low-temperature prepared amorphous SiNx films. II: Defect states electroluminescence

Yuan, Zhizhong;Anopchenko, Oleksiy;L. Pavesi
2008-01-01

2008
Wang, M.; Yuan, Zhizhong; Anopchenko, Oleksiy; Li, D.; Yang, D.; Pavesi, L.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/83080
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 33
  • OpenAlex ND
social impact