Direct evidence by positron annihilation spectroscopy of defect distributions deeper than Rp in Ar+ implanted silica glass

Mariazzi, Sebastiano;Brusa, Roberto Sennen
2009-01-01

2009
42
P., Mazzoldi; G., Mattei; L., Ravelli; W., Egger; Mariazzi, Sebastiano; Brusa, Roberto Sennen
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