IRIS

Direct evidence by positron annihilation spectroscopy of defect distributions deeper than Rp in Ar+ implanted silica glass

Mariazzi, Sebastiano;Brusa, Roberto Sennen
2009-01-01
2009
JOURNAL OF PHYSICS D. APPLIED PHYSICS
42
2-s2.0-70149113675
WOS:000266250300053
P., Mazzoldi; G., Mattei; L., Ravelli; W., Egger; Mariazzi, Sebastiano; Brusa, Roberto Sennen
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