How to measure quantum yields in scattering media: application to the quantum yield measurement of fluorescein molecules encapsulated in sub-100 nm silica particles

Martini, M.; Montagna, Maurizio; Ou, M.; Tillement, O.; Roux, S.; Perriat, P.

doi:10.1063/1.3248302

How to measure quantum yields in scattering media: application to the quantum yield measurement of fluorescein molecules encapsulated in sub-100 nm silica particles

M. Martini;Montagna, Maurizio;M. Ou;O. Tillement;S. Roux;P. Perriat

2009-01-01

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	Anno di pubblicazione (Date of publication)
	
				2009
			
	Titolo del periodico (Journal title)
	
				JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
			
	Numero e parte del fascicolo (Issue number and part)
	
				9
			
	DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1063/1.3248302
			
	Codice Scopus (Scopus identifier)
	
				2-s2.0-70450272565
			
	Codice WOS (WOS identifier)
	
				WOS:000272555700082
			
	Tutti gli autori
	
						M., Martini; Montagna, Maurizio; M., Ou; O., Tillement; S., Roux; P., Perriat
					
	Appare nelle tipologie:
	
				03.1 Articolo su rivista (Journal article)

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How to measure quantum yields in scattering media: application to the quantum yield measurement of fluorescein molecules encapsulated in sub-100 nm silica particles

M. Martini;Montagna, Maurizio;M. Ou;O. Tillement;S. Roux;P. Perriat

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