IRIS

Microstructural analysis of carbon films obtained from C60 fullerene ion beams

Brusa, Roberto Sennen;Zecca, Antonio
2003-01-01
2003
APPLIED SURFACE SCIENCE
01/04/2009
WOS:000183170000046
H., Huck; E., Halac; M., Reinoso; A., Dall'Asen; A., Somoza; W., Deng; Brusa, Roberto Sennen; G. P., Karwasz; Zecca, Antonio
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