IRIS

Proton induced damage in JFET based charge preamplifiers on high-resistivity silicon

Dalla Betta, Gian Franco;
2004-01-01
2004
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
5
Dalla Betta, Gian Franco; L., Ratti; M., Manghisoni; V., Re; V., Speziali; G., Traversi; A., Candelori
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