Extraction of bulk and surface generation lifetimes in high resistivity silicon by means of gated diodes

Verzellesi, Giovanni;Dalla Betta, Gian Franco;Pignatel, Giorgio Umberto;
2002-01-01

2002
Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, Gian Franco; Pignatel, Giorgio Umberto; M., Boscardin; L., Bosisio
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