Fast estimation of ADC nonlinearities using the Sinewave Histogram Test / F., Stefani; A., Moschitta; Macii, David; P., Carbone; Petri, Dario. - In: MEASUREMENT. - ISSN 0263-2241. - STAMPA. - 39:3(2006), pp. 232-237. [10.1016/j.measurement.2005.11.003]
Fast estimation of ADC nonlinearities using the Sinewave Histogram Test
Macii, David;Petri, Dario
2006-01-01
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