IRIS

Structural evolution of nanoporous silica thin films studied by positron annihilation spectroscopy and Fourier transform infrared spectroscopy

Patel, Nainesh Kantilal;Mariazzi, Sebastiano;Toniutti, Laura;Checchetto, Riccardo;Miotello, Antonio;Dirè, Sandra;Brusa, Roberto Sennen
2007-01-01
2007
JOURNAL OF PHYSICS D. APPLIED PHYSICS
17
2-s2.0-34548691824
WOS:000248785700038
Patel, Nainesh Kantilal; Mariazzi, Sebastiano; Toniutti, Laura; Checchetto, Riccardo; Miotello, Antonio; Dirè, Sandra; Brusa, Roberto Sennen...espandi
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/71272
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 9
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 7
  • OpenAlex ND
social impact