Application of the rietveld method to phase analysis of multilayered systems / Lutterotti, Luca; Scardi, Paolo; A., Tomasi. - STAMPA. - 133-136:(1993), pp. 57-62. (Intervento presentato al convegno EPDIC 2 tenutosi a Enschede, the Netherlands nel 30 luglio - 1 Agosto 1992) [10.4028/www.scientific.net/MSF.133-136.57].

Application of the rietveld method to phase analysis of multilayered systems

Lutterotti, Luca;Scardi, Paolo;
1993-01-01

1993
European Powder Diffraction EPDIC 2
Zurich
Trans Tech Publications
9780878496617
Lutterotti, Luca; Scardi, Paolo; A., Tomasi
Application of the rietveld method to phase analysis of multilayered systems / Lutterotti, Luca; Scardi, Paolo; A., Tomasi. - STAMPA. - 133-136:(1993), pp. 57-62. (Intervento presentato al convegno EPDIC 2 tenutosi a Enschede, the Netherlands nel 30 luglio - 1 Agosto 1992) [10.4028/www.scientific.net/MSF.133-136.57].
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