Accurate Software-Related Average Current Drain Measurements in Embedded Systems / Macii, David; Petri, Dario. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - STAMPA. - 56:3(2007), pp. 723-730. [10.1109/TIM.2007.894919]
Accurate Software-Related Average Current Drain Measurements in Embedded Systems
Macii, David;Petri, Dario
2007-01-01
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