A positron annihilation study on the defect properties of doped diamond films

X. J., Hu; Ye, J.; Liu, H.; Mariazzi, Sebastiano; Brusa, Roberto Sennen

A positron annihilation study on the defect properties of doped diamond films

X. J. Hu;J. Ye;H. Liu;Mariazzi, Sebastiano;Brusa, Roberto Sennen

2008-01-01

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno di pubblicazione (Date of publication)
	
				2008
			
	Titolo del periodico (Journal title)
	
				THIN SOLID FILMS
			
	Numero e parte del fascicolo (Issue number and part)
	
				8
			
	Codice Scopus (Scopus identifier)
	
				2-s2.0-38649138794
			
	Codice WOS (WOS identifier)
	
				WOS:000253872200009
			
	Tutti gli autori
	
						X. J., Hu; J., Ye; H., Liu; Mariazzi, Sebastiano; Brusa, Roberto Sennen
					
	Appare nelle tipologie:
	
				03.1 Articolo su rivista (Journal article)