Characterization of a highly photorefractive RF-sputtered SiO2-GeO2 waveguide / S., Sebastiani; Conti, Giuseppe; S., Pelli; C., Righini; Chiasera, Alessandro; Ferrari, Maurizio; Tosello, Cristiana. - In: OPTICS EXPRESS. - ISSN 1094-4087. - STAMPA. - 13:5(2005), pp. 1696-1701.
Titolo: | Characterization of a highly photorefractive RF-sputtered SiO2-GeO2 waveguide |
Autori: | S., Sebastiani; Conti, Giuseppe; S., Pelli; C., Righini; Chiasera, Alessandro; Ferrari, Maurizio; Tosello, Cristiana |
Autori Unitn: | |
Titolo del periodico: | OPTICS EXPRESS |
Anno di pubblicazione: | 2005 |
Numero e parte del fascicolo: | 5 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/63547 |
Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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