IRIS

Positron annihilation studies of Oxygen precipitation in silicon and of nano-precipitates in Si-rich SiO2 films:role of vacancy-like defects

Brusa, Roberto Sennen;Zecca, Antonio
2002-01-01
2002
2-s2.0-0036129360
WOS:000172421600012
Brusa, Roberto Sennen; W., Deng; G. P., Karwasz; Zecca, Antonio
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