Depth-profiling via X-Ray photoemission and Auger spectroscopies of N(+) implanted tungsten carbides grown on the Ti-6Al-4V alloy

Miotello, Antonio;
1998-01-01

1998
1-2
N., Laidani; C., Dorigoni; Miotello, Antonio; L., Calliari; G., Scarel; M., Sancrotti
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