Two-dimensional numerical simulation of edge-generated currents in type inverted,p+-n single sided silicon microstrip detecctors / Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, Gian Franco; Pignatel, Giorgio Umberto; Soncini, Giovanni. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - STAMPA. - (1999), pp. 1253-1257.
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Titolo: | Two-dimensional numerical simulation of edge-generated currents in type inverted,p+-n single sided silicon microstrip detecctors | |
Autori: | Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, Gian Franco; Pignatel, Giorgio Umberto; Soncini, Giovanni | |
Autori Unitn: | ||
Titolo del periodico: | IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | |
Anno di pubblicazione: | 1999 | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/50477 | |
Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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