IRIS

Characterization of ion-nitrided titanium layers by means of X-ray microdiffractometry

Scardi, Paolo;Tesi, Baldo;
1990-01-01
1990
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY
2-s2.0-0025385520
WOS:A1990CR61400007
Scardi, Paolo; Tesi, Baldo; T., Bacci; C., Gianoglio
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