Microwave NDT/NDE Through Differential Bayesian Compressive Sensing / Salucci, Marco; Poli, Lorenzo; Gottardi, Giorgio; Oliveri, Giacomo; Tosi, Luca; Massa, Andrea. - In: IEEE OPEN JOURNAL OF INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 2768-7236. - STAMPA. - 3:(2024), pp. 1-15. [10.1109/ojim.2024.3412205]
Microwave NDT/NDE Through Differential Bayesian Compressive Sensing
Salucci, Marco;Poli, Lorenzo;Gottardi, Giorgio;Oliveri, Giacomo;Tosi, Luca;Massa, Andrea
2024-01-01
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