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EnglishRole of microstructure and layer thickness in porous silicon conductometric gas sensors / Gaburro, Zeno; C., Oton; M., Ghulinyan; Pancheri, Lucio; Pavesi, Lorenzo; N., Capuj. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE. - ISSN 1862-6319. - ELETTRONICO. - 202:8(2005), pp. 1467-1471. [10.1002/pssa.200461138]
| Titolo: | Role of microstructure and layer thickness in porous silicon conductometric gas sensors | |
| Autori: | Gaburro, Zeno; C., Oton; M., Ghulinyan; Pancheri, Lucio; Pavesi, Lorenzo; N., Capuj | |
| Autori Unitn: | ||
| Titolo del periodico: | PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE | |
| Anno di pubblicazione: | 2005 | |
| Numero e parte del fascicolo: | 8 | |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-25444474712 | |
| Codice identificativo WOS: | WOS:000230206900027 | |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1002/pssa.200461138 | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/29632 | |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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http://hdl.handle.net/11572/29632
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