Role of microstructure and layer thickness in porous silicon conductometric gas sensors

Gaburro, Zeno; Oton, C.; Ghulinyan, M.; Pancheri, Lucio; Pavesi, Lorenzo; Capuj, N.

doi:10.1002/pssa.200461138

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Role of microstructure and layer thickness in porous silicon conductometric gas sensors / Z. Gaburro ; C. Oton ; M. Ghulinyan ; L. Pancheri ; L. Pavesi ; N. Capuj. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE. - ISSN 1862-6319. - ELETTRONICO. - 202:8(2005), pp. 1467-1471.

Titolo:	Role of microstructure and layer thickness in porous silicon conductometric gas sensors
Autori Unitn:	Gaburro, Zeno C. Oton M. Ghulinyan Pancheri, Lucio Pavesi, Lorenzo N. Capuj mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Anno di pubblicazione:	2005
Titolo del periodico:	PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE
Handle:	http://hdl.handle.net/11572/29632
Appare nelle tipologie:	03.1 Articolo su rivista (Journal article)

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