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EnglishRole of microstructure and layer thickness in porous silicon conductometric gas sensors / Z. Gaburro ; C. Oton ; M. Ghulinyan ; L. Pancheri ; L. Pavesi ; N. Capuj. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE. - ISSN 1862-6319. - ELETTRONICO. - 202:8(2005), pp. 1467-1471.
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http://hdl.handle.net/11572/29632| Titolo: | Role of microstructure and layer thickness in porous silicon conductometric gas sensors |
| Autori Unitn: | Gaburro, Zeno Pancheri, Lucio Pavesi, Lorenzo |
| Anno di pubblicazione: | 2005 |
| Titolo del periodico: | PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/29632 |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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