Role of microstructure and layer thickness in porous silicon conductometric gas sensors

Gaburro, Zeno; Oton, C.; Ghulinyan, M.; Pancheri, Lucio; Pavesi, Lorenzo; Capuj, N.

doi:10.1002/pssa.200461138

Role of microstructure and layer thickness in porous silicon conductometric gas sensors

Gaburro, Zeno;C. Oton;M. Ghulinyan;Pancheri, Lucio;Pavesi, Lorenzo;N. Capuj

2005-01-01

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno di pubblicazione (Date of publication)
	
				2005
			
	Titolo del periodico (Journal title)
	
				PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE
			
	Numero e parte del fascicolo (Issue number and part)
	
				8
			
	DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1002/pssa.200461138
			
	Codice Scopus (Scopus identifier)
	
				2-s2.0-25444474712
			
	Codice WOS (WOS identifier)
	
				WOS:000230206900027
			
	Tutti gli autori
	
						Gaburro, Zeno; C., Oton; M., Ghulinyan; Pancheri, Lucio; Pavesi, Lorenzo; N., Capuj
					
	Appare nelle tipologie:
	
				03.1 Articolo su rivista (Journal article)