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EnglishWe report on the characterization of 3D diodes with trenched electrodes and active edges manufactured by SINTEF MiNaLab (Oslo, Norway), and irradiated with reactor neutrons up to a maximum fluence of 2 × 1016 neq cm-2. The charge collection performance of these test structures is investigated by using a position resolved pulsed laser system, and discussed with the aid of TCAD simulations. In spite of the non-idealities of the test setup, whose spatial resolution is not fine enough for the small-pitch geometries of the considered samples, results confirm the good radiation hardness of 3D sensors with trenched electrodes.
Characterization of SINTEF 3D diodes with trenched-electrode geometry before and after neutron irradiation / Mendicino, R.; Kok, A.; Koybasi, O.; Povoli, M.; Summanwar, A.; Dalla Betta, G.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 15:2(2020), pp. C02023.1-C02023.9. [10.1088/1748-0221/15/02/C02023]
| Titolo: | Characterization of SINTEF 3D diodes with trenched-electrode geometry before and after neutron irradiation | |
| Autori: | Mendicino, R.; Kok, A.; Koybasi, O.; Povoli, M.; Summanwar, A.; Dalla Betta, G. | |
| Autori Unitn: | ||
| Titolo del periodico: | JOURNAL OF INSTRUMENTATION | |
| Anno di pubblicazione: | 2020 | |
| Numero e parte del fascicolo: | 2 | |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-85081256841 | |
| Codice identificativo WOS: | WOS:000527943500023 | |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/15/02/C02023 | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/293899 | |
| Citazione: | Characterization of SINTEF 3D diodes with trenched-electrode geometry before and after neutron irradiation / Mendicino, R.; Kok, A.; Koybasi, O.; Povoli, M.; Summanwar, A.; Dalla Betta, G.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 15:2(2020), pp. C02023.1-C02023.9. [10.1088/1748-0221/15/02/C02023] | |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| JINST_2020_2.pdf | Versione editoriale (Publisher’s layout) | Tutti i diritti riservati (All rights reserved) | Administrator |
http://hdl.handle.net/11572/293899
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