Finite element approximation of a phase field model for void electromigration / Barrett, J. W.; Nürnberg, R.; Styles, V.. - In: SIAM JOURNAL ON NUMERICAL ANALYSIS. - ISSN 0036-1429. - 42:2(2004), pp. 738-772. [10.1137/S0036142902413421]

Finite element approximation of a phase field model for void electromigration

Nürnberg R.;
2004

2
Barrett, J. W.; Nürnberg, R.; Styles, V.
Finite element approximation of a phase field model for void electromigration / Barrett, J. W.; Nürnberg, R.; Styles, V.. - In: SIAM JOURNAL ON NUMERICAL ANALYSIS. - ISSN 0036-1429. - 42:2(2004), pp. 738-772. [10.1137/S0036142902413421]
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