Low-temperature EBIC study of Zn-diffused GaAs p-n junctions

Araujo, D.; Pavesi, Lorenzo; Nguyen, H. K.; Ganiþre, J.; Reinhart, F.

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Low-temperature EBIC study of Zn-diffused GaAs p-n junctions / D., Araujo; Pavesi, Lorenzo; H. K., Nguyen; J., Ganiþre; F., Reinhart. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH. - ISSN 0031-8965. - STAMPA. - 129(1992), pp. 555-567.

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Titolo:	Low-temperature EBIC study of Zn-diffused GaAs p-n junctions
Autori Unitn:	D. Araujo Pavesi, Lorenzo H. K. Nguyen J. GaniÞre F. Reinhart mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Anno di pubblicazione:	1992
Titolo del periodico:	PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH
Handle:	http://hdl.handle.net/11572/28148
Appare nelle tipologie:	03.1 Articolo su rivista (Journal article)

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