Low-temperature EBIC study of Zn-diffused GaAs p-n junctions / D., Araujo; Pavesi, Lorenzo; H. K., Nguyen; J., Ganiþre; F., Reinhart. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH. - ISSN 0031-8965. - STAMPA. - 129:(1992), pp. 555-567.
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Titolo: | Low-temperature EBIC study of Zn-diffused GaAs p-n junctions | |
Autori: | D., Araujo; Pavesi, Lorenzo; H. K., Nguyen; J., Ganiþre; F., Reinhart | |
Autori Unitn: | ||
Titolo del periodico: | PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH | |
Anno di pubblicazione: | 1992 | |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-84951232939 | |
Codice identificativo WOS: | WOS:A1992HR43000025 | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/28148 | |
Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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