Dark Count Rate Degradation in CMOS SPADs Exposed to X-Rays and Neutrons / Ratti, Lodovico; Brogi, P.; Collazuol, G.; Dalla Betta, G. -F.; Ficorella, A.; Lodola, L.; Marrocchesi, P. S.; Mattiazzo, S.; Morsani, F.; Musacci, M.; Pancheri, L.; Vacchi, C.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - STAMPA. - 66:2(2019), pp. 567-574. [10.1109/TNS.2019.2893233]
Dark Count Rate Degradation in CMOS SPADs Exposed to X-Rays and Neutrons
Dalla Betta, G. -F.;Ficorella, A.;Pancheri, L.;
2019-01-01
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