Simulating the diffraction line profile from nanocrystalline powders using a spherical harmonics expansion / Beyerlein, K. R.; Scardi, P.. - In: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A, FOUNDATIONS AND ADVANCES. - ISSN 2053-2733. - ELETTRONICO. - 74:Pt 6(2018), pp. 640-646-646. [10.1107/S2053273318011452]
Simulating the diffraction line profile from nanocrystalline powders using a spherical harmonics expansion
Beyerlein, K. R.;Scardi, P.
2018-01-01
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
Beyerlein_et_al-2018-Acta_Crystallographica_Section_A.pdf
Solo gestori archivio
Tipologia:
Versione editoriale (Publisher’s layout)
Licenza:
Tutti i diritti riservati (All rights reserved)
Dimensione
839.58 kB
Formato
Adobe PDF
|
839.58 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione